[发明专利]平面式飞针测试机有效

专利信息
申请号: 201611086775.0 申请日: 2016-11-30
公开(公告)号: CN106707135B 公开(公告)日: 2019-11-05
发明(设计)人: 谭艳萍;王星;翟学涛;杨朝辉;高云峰 申请(专利权)人: 大族激光科技产业集团股份有限公司;深圳市大族数控科技有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 刘雯
地址: 518000 广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种平面式飞针测试机。上述的平面式飞针测试机用于对电路板进行测试,平面式飞针测试机包括上料机构、测试主机、下料机构以及送料机构;上料机构用于放置电路板;测试主机用于对电路板进行电性测试并发出测试信号;下料机构用于对测试后的电路板进行下料;送料机构位于上料机构与下料机构之间,送料机构包括第一机架、第一传送组件和第二传送组件,测试主机、第一传送组件和第二传送组件均设置于第一机架上;第一传送组件和第二传送组件均与测试主机通信连接;第一传送组件用于将位于上料机构上的电路板输送至测试主机上。上述的平面式飞针测试机的整体结构较为紧凑且简单;由于平面式飞针测试机的结构较为紧凑,占地面积较小。
搜索关键词: 传送组件 飞针测试机 平面式 电路板 测试主机 上料机构 送料机构 下料机构 紧凑 测试 测试信号 电性测试 通信连接 下料
【主权项】:
1.一种平面式飞针测试机,用于对电路板进行测试,其特征在于,所述平面式飞针测试机包括:上料机构,用于放置所述电路板;测试主机,用于对所述电路板进行电性测试并发出测试信号;下料机构,用于对测试后的所述电路板进行下料;以及送料机构,位于所述上料机构与所述下料机构之间,所述送料机构包括第一机架、第一传送组件和第二传送组件,所述测试主机、所述第一传送组件和所述第二传送组件均设置于所述第一机架上;所述第一传送组件和所述第二传送组件均与所述测试主机通信连接;所述第一传送组件用于将位于所述上料机构上的所述电路板输送至所述测试主机上,所述第二传送组件用于将位于所述测试主机上的电路板输送至所述下料机构上;部分所述第一传送组件位于所述上料机构的上方,且部分所述第二传送组件位于所述下料机构的上方。
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