[发明专利]UTC型InGaAs光电探测器及其制作方法在审
申请号: | 201611081514.X | 申请日: | 2016-11-30 |
公开(公告)号: | CN106409969A | 公开(公告)日: | 2017-02-15 |
发明(设计)人: | 王梦雪;杨文献;石向阳;代盼;谭明;吴渊渊;肖梦;袁正兵;史后明;黄寓洋;陆书龙 | 申请(专利权)人: | 苏州苏纳光电有限公司 |
主分类号: | H01L31/109 | 分类号: | H01L31/109;H01L31/18;H01L31/0216 |
代理公司: | 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)32256 | 代理人: | 王锋 |
地址: | 215000 江苏省苏州市苏州工业*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本申请公开了一种UTC型InGaAs光电探测器及其制作方法,该方法包括s1、在衬底上生长外延层;s2、刻蚀外延层,形成p型台阶和n型台阶;s3、采用BCB填充刻蚀台阶处,然后将BCB固化处理;s4、制作金属电极,包括在p型台阶上制备P型电极,在n型台阶上制备N型电极,以及在BCB上沉积金属形成空气桥结构。本发明以BCB胶作为填充物,介电常数低,形成空气桥结构,同时降低了器件的结面积,因此能有效地降低器件的电容,提高器件的频率响应。BCB胶作为钝化层有效地降低器件的暗电流,延长器件的使用寿命。本发明UTC光电探测器的制备,工艺简单,可控性好,易于实施,且所获器件具有良好结构特性以及优良检测性能。 | ||
搜索关键词: | utc ingaas 光电 探测器 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
一种UTC型InGaAs光电探测器,其特征在于,包括衬底、生长于所述衬底上的外延层、以及与所述外延层连接的电极,所述外延层具有刻蚀的台阶部,该台阶部填充有固化的BCB,所述固化的BCB同时作为外延层侧面的钝化层,所述固化的BCB顶面沉积有形成空气桥结构的金属。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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