[发明专利]一种基于多体制探测数据的短波通信可靠性评估方法有效
申请号: | 201611071301.9 | 申请日: | 2016-11-28 |
公开(公告)号: | CN106788815B | 公开(公告)日: | 2020-09-22 |
发明(设计)人: | 张秀强;苏东林;谢树果 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | H04B17/373 | 分类号: | H04B17/373;H04B17/391 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人: | 杨学明;顾炜 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于多体制探测数据的短波通信可靠性评估方法,计算短波通信链路和所有探测链路的反射点位置,选取与短波通信链路电离层反射点位置相近的探测链路数据;根据确定的探测链路电离层反射点位置及探测链路数据,预报得到探测链路电离层反射点的电离层参数;确定的短波通信链路和探测链路电离层反射点位置,以及预报得到的探测链路电离层反射点的电离层参数,重构得到短波通信链路电离层反射点的电离层参数;根据得到的电离层参数,利用短波传播预测方法预测短波通信链路的最高可用频率;根据得到的最高可用频率,计算短波通信链路采用最高可用频率进行通信时的接收场强,分析短波通信链路的可靠性。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 体制 探测 数据 短波 通信 可靠性 评估 方法 | ||
【主权项】:
一种基于多体制探测数据的短波通信可靠性评估方法,其特征在于包括以下步骤:步骤A:计算短波通信链路和所有探测链路的反射点位置,选取与短波通信链路电离层反射点位置相近的探测链路数据;步骤B:根据步骤A确定的探测链路电离层反射点位置及探测链路数据,预报得到探测链路电离层反射点的电离层参数;步骤C:根据步骤A确定的短波通信链路和探测链路电离层反射点位置,以及步骤B预报得到的探测链路电离层反射点的电离层参数,重构得到短波通信链路电离层反射点的电离层参数;步骤D:根据步骤C得到的短波通信链路电离层反射点电离层参数值,预测短波通信链路的最高可用频率;步骤E:根据步骤D得到的最高可用频率,计算短波通信链路采用最高可用频率进行通信时的接收场强,分析短波通信链路的可靠性。
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