[发明专利]一种薄壁壳体无损综合测量装置有效
| 申请号： | 201611064615.6 | 申请日： | 2016-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN106767290B | 公开（公告）日： | 2019-05-31 |
| 发明（设计）人： | 孔令豹;徐敏 | 申请（专利权）人： | 复旦大学 |
| 主分类号： | G01B5/06 | 分类号： | G01B5/06;G01B5/20;G01B5/28 |
| 代理公司： | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人： | 陆飞;陆尤 |
| 地址： | 200433 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明属于测量技术领域，具体为一种薄壁壳体无损综合测量装置。该测量装置包括：传感器、运动机构、基座、龙门架；其中，传感器采用双头精密位移传感器，包括上测头和下测头的双测头测量；运动机构为七自由度机构，包括四个移动自由度机构以及三个转动自由度机构；该装置针对变曲率薄壁壳体，通过更换传感器，以用于不同的测量需求，包括，内轮廓测量、外轮廓的测量、全局表面缺陷的测量等，可实现大尺寸、高陡度、深内腔的薄壁壳体的形位误差（内外表面形状误差、壁厚）及全局表面缺陷的高精度测量。 | ||
| 搜索关键词： | 薄壁壳体 传感器 综合测量装置 表面缺陷 运动机构 测量 测头 无损 精密位移传感器 测量技术领域 内外表面形状 高精度测量 内轮廓测量 移动自由度 转动自由度 测量需求 测量装置 七自由度 形位误差 变曲率 高陡度 龙门架 双测头 外轮廓 壁厚 内腔 双头 全局 | ||
【主权项】：
1.一种薄壁壳体无损综合测量装置，用于对变曲率薄壁壳体的形位误差及表面微观形貌和缺陷的测量，其特征在于，包括：传感器、运动机构、测量系统基座（7）、龙门架（4）；其中，传感器采用双头精密位移传感器，包括外测头（11）和内测头（12）的双测头测量；运动机构为七自由度机构，包括四个移动自由度机构：移动轴X（31）、移动轴Z1（32）、移动轴Z2（81）、移动轴W（83），以及三个转动自由度机构：转动轴B1（33）、转动轴B2（82）、中空式气浮转台 C（5） ；传感器的外测头（11）安装于转动轴B1（33），转动轴B1(33)安装于竖直移动轴Z1（32），而移动轴Z1安装于移动轴X（31），移动轴X安装于龙门架（4）的顶部，龙门架（4）的下部固定于测量系统基座（7）；传感器的内测头（12）安装于移动轴W（83），移动轴W安装于转动轴B2（82），转动轴B2安装于竖直移动轴Z2（81）， 移动轴Z2(81)安装于测量系统的基座（7）；中空式气浮转台C（5）包括气浮转台动子（51）和气浮转台定子（52），中空式气浮转台C（5）安装在转台支架（6）上，转台支架固定于龙门架（4）的中下部。
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