[发明专利]玻璃澄清剂材料氧化锡中主含量SnO2的X荧光测定法在审
申请号: | 201611055841.8 | 申请日: | 2016-11-25 |
公开(公告)号: | CN106442595A | 公开(公告)日: | 2017-02-22 |
发明(设计)人: | 彭寿;谢军;王国全;易元 | 申请(专利权)人: | 成都中光电科技有限公司;东旭集团有限公司 |
主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223;G01N1/28 |
代理公司: | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司51214 | 代理人: | 钱成岑;詹永斌 |
地址: | 611731 四川省成都*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种玻璃澄清剂材料氧化锡中主含量SnO2的X荧光测定法,属于玻璃制造领域中的检测方法,依次包括以下步骤:利用压片机压制标准样品片系列;将压制好的标准样品片于X荧光光谱仪上登记强度,建立标准曲线;用已知成分含量的验证标准片验证标准曲线的可靠性;依据建立的标准曲线检测待测样品的主含量。本发明的方法与传统碱熔融处理后络合返滴定相比,样品处理过程更简单、无损失,自动化,检测效率高,结果更可靠。本方法通过压片提供构建标准曲线的标准品,与现有技术采用铂黄坩埚高温熔融法提供标准品和样品的检测方法相比,更安全、节能、均匀、简单、同时,避免坩埚腐蚀,数据可靠。 | ||
搜索关键词: | 玻璃 澄清 材料 氧化 锡中主 含量 sno2 荧光 测定法 | ||
【主权项】:
一种玻璃澄清剂材料氧化锡中主含量SnO2的X荧光测定法,其特征在于,包括以下步骤:I、压制标准样品至少1份;II、在X荧光光谱仪上登记步骤I所得标准样品的SnO2含量及强度,并根据强度及含量数据建立标准曲线;III、在X荧光光谱仪上检测待测样品,根据步骤II的标准曲线获得待测样品的含量;其中,步骤I的标准样品和步骤III的待测样品按以下方法准备:取SnO2含量在98%~100%的氧化锡标准样品系列及待测样品,分别研磨至无颗粒感,然后取适量的标准样品及待测样品置于压片机的模具槽中心圈,再在模具槽中心圈的四周均匀加入重量为所取样品2.5‑3.5倍的粘合固定剂,轻轻取出模具槽,并将加入的固定剂铺平,使之盖住样品槽中心圈内的样品,加上重力压头,启动压片机压片,得到样品。
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