[发明专利]芯片内部动作时间的检测系统及方法有效
| 申请号： | 201611040490.3 | 申请日： | 2016-11-22 |
| 公开（公告）号： | CN106774636B | 公开（公告）日： | 2020-03-31 |
| 发明（设计）人： | 席与凌;李强 | 申请（专利权）人： | 上海华力微电子有限公司 |
| 主分类号： | G06F1/14 | 分类号： | G06F1/14 |
| 代理公司： | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人： | 吴世华;陈慧弘 |
| 地址： | 201210 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种芯片内部动作时间的检测系统及方法，芯片具有状态输出管，该检测系统包括：检测设备、外部时钟、计算单元和定义单元；检测设备具有失效地址存储单元，用于对虚拟地址进行计数；其中，芯片的状态输出管与失效地址存储单元的控制端相连；外部时钟与失效地址存储单元的输入端相连；计算单元，估算要测量的动作时间，据此定义时钟信号的周期；定义单元，在失效地址存储单元中为每个时钟信号定义不同的虚拟地址；检测设备，检测时，将虚拟地址存储于失效地址存储单元中；然后计算单元还统计存储于失效地址存储单元中的虚拟地址数目；此外，计算单元根据时钟信号的周期和虚拟地址数目，从而准确地计算出芯片内部动作时间。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 内部 动作 时间 检测 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种芯片内部动作时间的检测系统，芯片具有状态输出管，其特征在于，包括：检测设备、外部时钟、计算单元和定义单元；检测设备具有失效地址存储单元，用于对虚拟地址进行计数；其中，芯片的状态输出管与失效地址存储单元的控制端相连；外部时钟与失效地址存储单元的输入端相连；计算单元，估算要测量的动作时间，据此定义时钟信号的周期；定义单元，在失效地址存储单元中为每个时钟信号定义不同的虚拟地址；检测设备，检测时，将虚拟地址存储于失效地址存储单元中；然后计算单元还统计存储于失效地址存储单元中的虚拟地址数目；此外，计算单元根据时钟信号的周期和虚拟地址数目，计算芯片内部动作时间。
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