[发明专利]填充料位测量装置有效
| 申请号： | 201611020303.5 | 申请日： | 2016-11-17 |
| 公开（公告）号： | CN107040298B | 公开（公告）日： | 2019-11-08 |
| 发明（设计）人： | 罗兰·韦勒 | 申请（专利权）人： | VEGA格里沙贝两合公司 |
| 主分类号： | H04B7/06 | 分类号： | H04B7/06;G01F23/284;H01Q21/00 |
| 代理公司： | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人： | 姚鹏;曹正建 |
| 地址： | 德国沃*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明公开了一种天线装置201、203，其包括控制装置111、处于预定位置的至少两个发射装置202、207和处于预定位置的至少两个接收装置205、207。控制装置201被设定成其交替地t1、t2、t3、t4对所述至少两个发射装置202、207单个地进行激励以进行发射，使得所述至少两个接收装置205、207的各者会接收由所述至少两个发射装置的各者生成的发射信号。控制装置111被进一步设定成在预定时刻t5处联合地激励所述至少两个发射装置进行发射，使得所述至少两个接收装置的各者接收由单个虚拟发射装置704生成的发送信号。 | ||
| 搜索关键词： | 天线 装置 及其 操作方法 测量 仪器 程序 单元 | ||
【主权项】：
1.一种填充料位测量装置(105)，所述填充料位测量装置用于确定填充料位和/或用于确定对象(104)的表面结构(120)，所述填充料位测量装置具有天线装置，所述天线装置包括：控制器；天线阵列，所述天线阵列包括：处于第一预定位置的至少两个发射设备；处于第二预定位置的至少两个接收设备；其中，所述控制器被构造成交替地单个地激励所述至少两个发射设备进行发射，使得所述至少两个接收设备各自接收由所述至少两个发射设备各自生成和发射的发射信号；并且其中，所述控制器被进一步构造成在预定时刻处联合地激励所述至少两个发射设备进行发射，使得所述发射设备各自发射发射信号，其中，所述发射信号彼此相干，使得由于由所述至少两个发射设备发射的两个发射信号的叠加，所述至少两个接收设备各自接收由单个虚拟发射设备生成的发射信号；其中，所述虚拟发射设备布置在与所述至少两个发射设备的所述第一预定位置不同的预定位置中。
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