[发明专利]锰硅合金中磷含量的X射线荧光压片检测方法在审
| 申请号： | 201610987699.4 | 申请日： | 2016-11-10 |
| 公开（公告）号： | CN106442592A | 公开（公告）日： | 2017-02-22 |
| 发明（设计）人： | 吴秀才 | 申请（专利权）人： | 芜湖新兴铸管有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司11283 | 代理人： | 张苗;罗攀 |
| 地址： | 241000 安徽省*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种锰硅合金中磷含量的X射线荧光压片检测方法，该X射线荧光压片检测方法包括：1)将标准样和检测样进行压片；2)通过X射线荧光法检测多个标准样的荧光分析强度Kcps；接着以标准样中的磷含量为横坐标、荧光分析强度Kcps为纵坐标绘制工作曲线或者计算出工作曲线方程；3)通过X射线荧光法检测检测样中荧光分析强度，接着通过纵坐标绘制工作曲线或者计算出工作曲线方程计算出检测样的磷含量；其中，标准样和检测样同为锰硅合金；在步骤1)中，压片具体步骤为：将待压片的物质与微晶纤维素混合并研磨，接着以硼酸为填充剂以进行压片，相对于1重量份的微晶纤维素，标准样或检测样的用量为3‑15重量份。通过该方法能够快速、稳定、准确地检测锰硅合金中的磷含量。 | ||
| 搜索关键词： | 合金 含量 射线 荧光 压片 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种锰硅合金中磷含量的X射线荧光压片检测方法，其特征在于，包括：1)将标准样和检测样进行压片；2)通过X射线荧光法检测多个标准样的荧光分析强度Kcps；接着以所述标准样中的磷含量为横坐标、荧光分析强度Kcps为纵坐标绘制工作曲线或者计算出工作曲线方程；3)通过X射线荧光法检测检测样中荧光分析强度，接着通过纵坐标绘制工作曲线或者计算出工作曲线方程计算出所述检测样的的磷含量；其中，所述标准样和检测样同为锰硅合金；在步骤1)中，所述压片具体步骤为：将待压片的物质与微晶纤维素混合并研磨，接着以硼酸为填充剂以进行压片，相对于1重量份的所述微晶纤维素，所述标准样或检测样的用量为3‑15重量份。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于芜湖新兴铸管有限责任公司，未经芜湖新兴铸管有限责任公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201610987699.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
