[发明专利]一种通过消除甜点效应提高质谱检测重复性的方法有效
申请号: | 201610974371.9 | 申请日: | 2016-10-27 |
公开(公告)号: | CN106483191B | 公开(公告)日: | 2019-03-08 |
发明(设计)人: | 吕男;李宁;窦树珍;朱群艳;王中舜;滕飞 | 申请(专利权)人: | 吉林大学 |
主分类号: | G01N27/64 | 分类号: | G01N27/64 |
代理公司: | 长春吉大专利代理有限责任公司 22201 | 代理人: | 刘世纯;王恩远 |
地址: | 130012 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | 一种通过消除甜点效应提高质谱检测重复性的方法,属于检测技术领域。由于弱疏水作用,聚甲基丙烯酸甲酯可以吸附一些疏水性的蛋白以及多肽,因此,我们以聚甲基丙烯酸甲酯点修饰的疏水硅纳米柱阵列提供均匀的吸附位点,倒扣在搅拌的待测物分子的溶液中,取出时,由于该阵列的的疏水作用,不会有液膜在表面,杜绝了咖啡环效应,而分子均匀吸附在每一个纳米柱,最后滴加基质,由于配制溶液的乙腈和三氟乙酸都是极易挥发的溶剂,挥发速度大于分子向两端迁移的速度,因此,基质晾干后也不会有咖啡环效应。总之,我们这种方法保证了分子和基质的均匀分布,很大程度上提高了待测分子的检测重复性。 | ||
搜索关键词: | 一种 通过 消除 甜点 效应 提高 检测 重复性 方法 | ||
【主权项】:
1.一种通过消除甜点效应提高质谱检测重复性的方法,其步骤如下:(1)在提球硅片基底上旋涂聚甲基丙烯酸甲酯薄膜;(2)在覆盖聚甲基丙烯酸甲酯薄膜的提球硅片基底上组装聚苯乙烯微球;(3)利用反应离子刻蚀技术,以聚苯乙烯微球作为掩膜对硅进行刻蚀;(4)利用有机溶剂除去残留的聚苯乙烯微球,从而得到有序硅纳米柱阵列;(5)在得到的有序硅纳米柱阵列上通过组装氟硅烷单层分子膜进行表面修饰,得到疏水有序硅纳米柱阵列;(6)在氟修饰的疏水有序硅纳米柱阵列上旋涂聚甲基丙烯酸甲酯薄膜;(7)对聚甲基丙烯酸甲酯薄膜覆盖的疏水硅纳米柱阵列进行加热,得到聚甲基丙烯酸甲酯点状结构修饰的疏水硅纳米柱阵列;(8)用聚甲基丙烯酸甲酯点状结构修饰的疏水硅纳米柱阵列吸附待测分子;(9)滴加基质分子溶液到吸附有待测分子的聚甲基丙烯酸甲酯点状结构修饰的疏水硅纳米柱阵列;(10)晾干步骤(9)中制备的样品,进行质谱检测。
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