[发明专利]光电测量装置、光电测量方法、计算机可读介质有效
| 申请号： | 201610957552.0 | 申请日： | 2016-10-27 |
| 公开（公告）号： | CN106646501B | 公开（公告）日： | 2021-02-26 |
| 发明（设计）人： | J·辛德林 | 申请（专利权）人： | 赫克斯冈技术中心 |
| 主分类号： | G01S17/32 | 分类号： | G01S17/32 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 吕俊刚;师玮 |
| 地址： | 瑞士赫*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 光电测量装置、光电测量方法、计算机可读介质。一种用于距离确定和/或位置确定的光电测量装置(1)包括：用于生成第一波长的光学测量辐射(30、36)的辐射源(35、40、75、310)，其中，所述测量辐射(30、36)以定向的方式被发射到自由空间中。辐射源(35、40、75、310)被设计成使得第一波长在1210nm至1400nm之间的范围内，并且所发射的测量辐射(30、36)的功率在时间上和空间上平均为至少14mW。 | ||
| 搜索关键词： | 光电 测量 装置 测量方法 计算机 可读 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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