[发明专利]具有高温测试功能的测试座在审

专利信息
申请号: 201610925765.5 申请日: 2016-10-24
公开(公告)号: CN107976561A 公开(公告)日: 2018-05-01
发明(设计)人: 何文仁;侯瑞毅;蔡进传 申请(专利权)人: 豪威科技股份有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R31/28
代理公司: 北京汇泽知识产权代理有限公司11228 代理人: 毛广杰
地址: 美国加州9505*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明公开了一种用于具有高温测试功能的测试座,包含一测试座框架,为具有低热传导率的塑胶材料所形成;一测试座框罩,为具有高热传导率的金属材料所形成,配置于测试座框架之下;至少一浮置板,配置于测试座框罩之中,多个探针配置于至少一浮置板之中;至少一加热装置,配置于测试座框罩之中;以及至少一探测针座,用以容纳该多个探针穿过其中。本发明的测试座,无需大体积的测试座框罩即可以达到一个温度稳定、适于高温测试的有效率的设计。本发明可以有效地解决高温芯片测试的问题,并获得稳定的测试环境温度。
搜索关键词: 具有 高温 测试 功能
【主权项】:
一种具有高温测试功能的测试座,其特征在于,包括:一测试座框架,为塑胶材料所形成;一测试座框罩,为金属材料所形成,配置于该测试座框架之下;至少一浮置板,配置于该测试座框罩之中,多个探针配置于该至少一浮置板之中;以及至少一探测针座,用以容纳该多个探针穿过其中。
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