[发明专利]具有高温测试功能的测试座在审
申请号: | 201610925765.5 | 申请日: | 2016-10-24 |
公开(公告)号: | CN107976561A | 公开(公告)日: | 2018-05-01 |
发明(设计)人: | 何文仁;侯瑞毅;蔡进传 | 申请(专利权)人: | 豪威科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R31/28 |
代理公司: | 北京汇泽知识产权代理有限公司11228 | 代理人: | 毛广杰 |
地址: | 美国加州9505*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种用于具有高温测试功能的测试座,包含一测试座框架,为具有低热传导率的塑胶材料所形成;一测试座框罩,为具有高热传导率的金属材料所形成,配置于测试座框架之下;至少一浮置板,配置于测试座框罩之中,多个探针配置于至少一浮置板之中;至少一加热装置,配置于测试座框罩之中;以及至少一探测针座,用以容纳该多个探针穿过其中。本发明的测试座,无需大体积的测试座框罩即可以达到一个温度稳定、适于高温测试的有效率的设计。本发明可以有效地解决高温芯片测试的问题,并获得稳定的测试环境温度。 | ||
搜索关键词: | 具有 高温 测试 功能 | ||
【主权项】:
一种具有高温测试功能的测试座,其特征在于,包括:一测试座框架,为塑胶材料所形成;一测试座框罩,为金属材料所形成,配置于该测试座框架之下;至少一浮置板,配置于该测试座框罩之中,多个探针配置于该至少一浮置板之中;以及至少一探测针座,用以容纳该多个探针穿过其中。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于豪威科技股份有限公司,未经豪威科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610925765.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种PCB板测试治具
- 下一篇:蓄电池充放电不间断转接装置