[发明专利]一种定位基站和空间定位系统有效

专利信息
申请号: 201610913623.7 申请日: 2016-10-20
公开(公告)号: CN106383336B 公开(公告)日: 2019-08-20
发明(设计)人: 张超;王捷 申请(专利权)人: 成都理想境界科技有限公司
主分类号: G01S5/16 分类号: G01S5/16
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610041 四川省成都市*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种定位基站和空间定位系统,定位基站包括:底座;旋转轴,设置于底座上;第一激光扫描器,设置于旋转轴的第一位置;第二激光扫描器,设置于旋转轴的第二位置;第三激光扫描器,设置于旋转轴的第三位置;其中,第一位置、第二位置和第三位置为同一水平面上的不同位置。通过本发明公开的定位基站和空间定位系统,能够精准和快速地实现空间定位,同时定位基站上的三个激光扫描器位于同一水平面,从而能够减小定位基站的高度,提高了定位基站的便携性。
搜索关键词: 一种 定位 基站 空间 系统
【主权项】:
1.一种定位基站,其特征在于,包括:底座;旋转轴,设置于所述底座上;第一激光扫描器,设置于所述旋转轴的第一位置,所述第一激光扫描器的出射端设置有第一一字线透镜,所述第一一字线透镜能够调节出射的第一扫描线形成的第一扫描平面的角度;第二激光扫描器,设置于所述旋转轴的第二位置,所述第二激光扫描器的出射端设置有第二一字线透镜,所述第二一字线透镜能够调节出射的第二扫描线形成的第二扫描平面的角度;第三激光扫描器,设置于所述旋转轴的第三位置,所述第三激光扫描器的出射端设置有第三一字线透镜,所述第三一字线透镜能够调节出射的第三扫描线形成的第三扫描平面的角度;其中,在扫描到空间中的定位设备时,所述第一扫描平面、所述第二扫描平面和所述第三扫描平面不重合,所述第一位置、所述第二位置和所述第三位置为同一水平面上的不同位置。
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