[发明专利]输入装置、传感器控制方法、电子设备及其控制方法有效

专利信息
申请号: 201610892753.7 申请日: 2016-10-13
公开(公告)号: CN106598366B 公开(公告)日: 2019-07-05
发明(设计)人: 中尾邦久 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: G06F3/044 分类号: G06F3/044
代理公司: 北京怡丰知识产权代理有限公司 11293 代理人: 迟军
地址: 日本东京都大*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明公开一种输入装置、传感器控制方法、电子设备及其控制方法。如果外围电极的测量结果中任一超过了阈值,则设置单元设置交叉点的各互电容的累积次数,以使与导体物的位置更接近的交叉点的累积次数更多,并使距导体物的位置更远的交叉点的累积次数更少。如果所有测量结果都没有超过阈值,则设置单元将交叉点的累积次数设置为相同的值。
搜索关键词: 输入 装置 传感器 控制 方法 电子设备 及其
【主权项】:
1.一种输入装置,所述输入装置包括:触摸面板传感器,其具有第一数量的列电极和与所述第一数量的列电极交叉配置的第二数量的行电极;第一测量单元,其被配置为对多个外围电极的各个执行自电容测量,所述多个外围电极是所述第一数量的列电极和所述第二数量的行电极中在所述触摸面板传感器的外围部分中配置的列电极和行电极;确定单元,其被配置为确定所述第一测量单元测量的多个外围电极的测量结果中任一是否超过了阈值;设置单元,其被配置为如果所述第一测量单元测量的多个外围电极的测量结果中任一超过了阈值,则设置由所述第一数量的列电极和所述第二数量的行电极交叉形成的多个交叉点的各互电容的累积次数,以使与基于自电容测量的测量结果估算的导体物的位置更接近的交叉点的累积次数更多,并使距所述导体物的位置更远的交叉点的累积次数更少,并且,如果所述第一测量单元测量的多个外围电极的所有测量结果都没有超过所述阈值,则将所述多个交叉点的各个的互电容的累积次数设置为相同的值;第二测量单元,其被配置为根据所述设置单元对所述多个交叉点的各个设置的累积次数,对所述多个交叉点的各个执行互电容测量;以及确定单元,其被配置为基于所述第二测量单元执行的互电容测量的测量结果确定所述导体物的坐标。
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