[发明专利]一种基于传感技术的轴类工件测量装置及其测量方法

摘要

本发明涉及轴类工件形位公差测量技术领域，尤其是一种基于传感技术的轴类工件测量装置及其测量方法，形位公差测量装置包括底座、夹持组件、测量组件、信号调理器、处理器、PLC控制器和显示屏。本发明的基于传感技术的轴类工件测量装置利用了光、机、电以及处理器和信号处理等高新技术检测手段，其中CCD图像传感器、位置传感器、码盘等测量仪器接受到的信息通过处理器进行处理，能够检测轴类工件的形位公差以及外形尺寸，具有精密、准确、高效的特点，而且结构简单、成本较低，是实现轴类工件的形位公差检测的有效途径之一。

主权项

一种基于传感技术的轴类工件测量装置，其特征在于：包括：底座(1)，所述底座(1)固定在水平面上；夹持组件，所述夹持组件固定在所述底座(1)上，所述夹持组件包括夹具(21)、夹具驱动器(22)和顶紧件，所述夹具(21)安装在所述夹具驱动器(22)上，所述顶紧件固定在所述底座(1)上，所述顶紧件和夹具(21)夹持固定轴类工件(6)，所述顶紧件和所述夹具(21)具有相等的定心高度；测量组件，所述测量组件包括CCD图像传感器(31)、角度传感器(32)和位置传感器(33)，所述角度传感器(32)安装在所述夹具(21)上，所述角度传感器(32)用于检测所述夹具(21)转动的角度，所述CCD图像传感器(31)和位置传感器(33)借助滑动支架(41)滑动安装在滑动导轨(4)上，所述滑动导轨(4)固定在底座(1)上，所述滑动支架(41)由电机(42)驱动沿着所述滑动导轨(4)滑动，所述CCD图像传感器(31)用于轴类工件(6)的检测，所述位置传感器(33)用于判断所述CCD图像传感器(31)的位置；信号调理器(5)，所述信号调理器(5)用于接收所述测量组件传送的信号，所述信号调理器(5)进行信号的过滤、放大与调理并传送到处理器(7)；处理器(7)，所述处理器(7)接收信号调理器(5)反馈的信号，并与预设的阀值进行分析与判断轴类工件(6)的形位公差；PLC控制器(8)，所述PLC控制器(8)与所述处理器(7)相连，所述PLC控制器(8)根据处理器(7)的控制信号控制夹具驱动器(22)和电机(42)；显示屏(9)，所述显示屏(9)与所述处理器(7)相连，所述显示屏(9)用于显示形位公差测量结果。