[发明专利]磁共振成像序列相位校正方法及磁共振设备有效

专利信息
申请号: 201610879030.3 申请日: 2016-10-08
公开(公告)号: CN106353706B 公开(公告)日: 2019-07-23
发明(设计)人: 陈操;郭红宇;徐勤 申请(专利权)人: 上海东软医疗科技有限公司
主分类号: G01R33/565 分类号: G01R33/565
代理公司: 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 代理人: 林祥
地址: 200241 上海市闵*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 本申请提供一种磁共振成像序列相位校正方法及磁共振设备,所述方法包括:通过磁共振预扫描,获取成像序列在多通道条件下每个通道的回波信号,所述回波信号包括第一回波信号和第二回波信号;对所述多个通道的第二回波信号进行多次平移,确定使所述多个通道的成像相位一致性最高的位移量,作为校正位移量;根据所述校正位移量,确定所述多个通道的回波信号的一阶相位校正值和零阶相位校正值。本申请磁共振成像序列相位校正方法,不利用信号形状直接计算一阶相位校正值,而是通过平移信号曲线确定多通道的一阶相位校正值和零阶相位校正值,能避免先计算一阶相位校正值,再计算零阶相位校正值的过程容易受各种因素的影响而导致计算错误的缺陷。
搜索关键词: 磁共振 成像 序列 相位 校正 方法 设备
【主权项】:
1.一种磁共振成像序列相位校正方法,其特征在于,包括:通过磁共振预扫描,获取成像序列在多通道条件下每个通道的回波信号,所述回波信号包括第一回波信号和第二回波信号;提供多个备选的位移量,对多个通道的第二回波信号的信号曲线根据所述多个备选的位移量进行相应次数的平移,确定使所述多个通道的成像相位一致性最高的位移量,作为校正位移量;根据所述校正位移量,确定所述多个通道的回波信号的一阶相位校正值和零阶相位校正值。
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