[发明专利]非球面模具的在位测量系统及其测量方法和测量检验方法在审
申请号: | 201610863489.4 | 申请日: | 2016-09-29 |
公开(公告)号: | CN106595473A | 公开(公告)日: | 2017-04-26 |
发明(设计)人: | 朱勇建;曹胜;范玉峰;王宇 | 申请(专利权)人: | 浙江科技学院(浙江中德科技促进中心) |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;G01B11/24 |
代理公司: | 杭州赛科专利代理事务所(普通合伙)33230 | 代理人: | 董建军 |
地址: | 310023 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种非球面模具的在位测量系统,包括接触探针、气浮轴承、光学干涉系统、图像采集处理系统和软件处理系统,所述光学干涉系统包括一个光源、一个激光扩束系统、一个猫眼反射镜、两个反射镜、一个偏振分光镜、一个1/2λ波片、三个1/4λ玻片、一个分束光栅或全息分束单元、一个空间滤波器和一组偏振片组;所述图像采集处理系统包括CCD相机、图像采集卡和计算机,软件处理系统包括相位计算模块、面形坐标转换模块、曲面拟合模块和误差分析模块。本发明的有益效果位移测量的精度可达纳米量级,并且能实现实时的在位测量,测量过程可避开振动噪声的干扰,且测量准确性和稳定性高。 | ||
搜索关键词: | 球面 模具 在位 测量 系统 及其 测量方法 检验 方法 | ||
【主权项】:
一种非球面模具的在位测量系统,其特征在于:其包括接触探针、气浮轴承、光学干涉系统、图像采集处理系统和软件处理系统,所述光学干涉系统包括:一个光源、一个激光扩束系统、一个猫眼反射镜、两个反射镜、一个偏振分光镜、一个1/2λ波片、三个1/4λ玻片、一个分束光栅或全息分束单元、一个空间滤波器和一组偏振片组;所述图像采集处理系统包括:CCD相机、图像采集卡和计算机,软件处理系统包括:相位计算模块、面形坐标转换模块、曲面拟合模块和误差分析模块;所述光源发射的激光通过 1/2λ波片,形成圆偏振光,通过激光扩束系统放大,并被第一个反射镜反射到偏振分光镜中,偏振分光镜将一部分偏振光束反射,通过第一个1/4λ玻片改变偏振态,入射到猫眼反射镜中,形成物光,猫眼反射镜中的非球面透镜将物光光束始终聚焦在其反射镜面上,猫眼反射镜与接触探针粘连在一起,随接触探针在模具表面滑动,所述接触探针由气浮轴承驱动与控制,使得模具表面形貌的变化信息编码在物光中;偏振分光镜将另外一部分光束透射,通过第二个1/4λ波片,入射到第二个反射镜,并被第二个反射镜反射,形成参考光束;离开偏振分光镜后,参考光与物光相遇,通过空间滤波器滤除杂散光,并被分束光栅或全息分束单元分成四束等光强的物‑参混合光束,再次通过第三个1/4λ波片和偏振片组,形成四幅不同相移量的空间干涉条纹,并成像在 CCD相机 中,图像采集卡将CCD 相机中的图像模拟信号导入计算机,在计算机中进行干涉图像处理,提取模具表面的变化信息,实现非球面模具的形面测量。
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