[发明专利]一种镁及镁合金中缺陷的定量检测方法有效

专利信息
申请号: 201610854556.6 申请日: 2016-09-27
公开(公告)号: CN106153635B 公开(公告)日: 2018-12-07
发明(设计)人: 李卫红;周吉学;马百常;吴建华;庄海华;韩青友;杨院生 申请(专利权)人: 山东省科学院新材料研究所
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88
代理公司: 济南领升专利代理事务所(普通合伙) 37246 代理人: 崔苗苗;李鹏
地址: 250014 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明涉及一种镁及镁合金中缺陷的定量检测方法,包括步骤如下:用光学显微镜附带的摄像头按顺序连续无遗漏且有重叠地对整个抛光面采集图像;拼图,处理重叠,得到整个待检截面的拼接图像;在Photoshop软件新建的图层中用魔棒工具点选出每一个缺陷的区域,将整个截面上的所有缺陷保存在同一个图像中;图像中所有缺陷分析汇总计算。该方法处理过程更简便,并可更准确地提取缺陷,提高定量检测结果的准确性,不仅有再现性,并且通用性更强。
搜索关键词: 一种 镁合金 缺陷 定量 检测 方法
【主权项】:
1.一种镁及镁合金中缺陷的定量检测方法,其特征是,包括步骤如下:(1)采集全部图像:将待检截面用耐水砂纸磨平后抛光,用光学显微镜附带的摄像头按顺序连续无遗漏且有重叠地对整个抛光面采集图像;(2)拼图:用Photoshop软件或具有拼图功能的其它软件按顺序依次拼接,处理重叠,得到整个待检截面的拼接图像;所述的处理重叠方法为:拼图时,成功置入第一幅图像后,选中要置入的第二幅图像,将该图层的不透明度设为30~80%,移动待置入的第二幅图像,使与第一幅图像有重叠的部分完全重叠,此时可形成清晰的两张图像的拼接图像,回车确定置入,再将该图层的不透明度设为100%,完成两张图像的拼接和匹配,重复上述步骤,可实现整个待检截面的拼接和匹配;(3)提取整个待检面的全部的缺陷:在光学显微镜下光线在缺陷处会发生散射呈黑色,只是有的黑色区域尺寸较大,有的黑色区域尺寸较小呈分散状态,在Photoshop软件新建的图层中用魔棒工具点选出每一个缺陷的区域,将整个截面上的所有缺陷保存在同一个图像中,得到仅含有缺陷大小、形貌、分布的截面图像;(4)图像中所有缺陷分析汇总计算:用IPP软件打开保存的图像文件,对缺陷进行统计并对整个检测截面的总面积进行计算;将统计结果输出到Excel软件中进行定量处理,得到每个缺陷的尺寸信息、所有缺陷的统计信息,缺陷的总面积与整个检测截面的总面积之比即为缺陷的含量;所述的每个缺陷的尺寸信息包括缺陷的面积、最大直径和平均直径;所述的所有缺陷的统计信息包括:总面积、最大面积、最小面积、平均面积、面积分布、等效圆直径、最大最大直径、最小最大直径、平均最大直径、最大直径分布、最大平均直径、最小平均直径、平均平均直径以及平均直径分布。
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