[发明专利]一种改进的随机存取内存自检方法有效
| 申请号： | 201610846177.2 | 申请日： | 2016-09-23 |
| 公开（公告）号： | CN106383751B | 公开（公告）日： | 2020-10-20 |
| 发明（设计）人： | 江伟;黄鸿;曹辉;刘晓 | 申请（专利权）人： | 卡斯柯信号有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/07 | 分类号： | G06F11/07;G06F11/10 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 应小波 |
| 地址： | 200070 上海市闸北区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种改进的随机存取内存自检方法，包括以下步骤：步骤S1，将待测内存划分成多个不叠加的内存段；步骤S2，每段内存采用Abraham算法进行自检；步骤S3，预先计算好待测内存中各段测试数据异或结果的CRC值；步骤S4，开始内存测试之前，将所有测试数据依次填入待测内存；步骤S5，每段内存测试之后，计算一次当前各段内存中数据异或结果的CRC值；步骤S6，在线计算的CRC值与预先计算好的CRC值做比较，若相同则认为本段内存与其他内存无耦合，继续进行下一段内存的测试，重复步骤S5，若不同则认为发现耦合，算法终止。与现有技术相比，本发明具有发现RAM分段测试后各段内存之间耦合失效的情况并提高RAM自检执行效率等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 改进 随机存取 内存 自检 方法 | ||
【主权项】：
一种改进的随机存取内存自检方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1，将待测内存划分成多个不叠加的内存段；步骤S2，每段内存采用Abraham算法进行自检；步骤S3，预先计算好待测内存中各段测试数据异或结果的CRC值；步骤S4，开始内存测试之前，将所有测试数据依次填入待测内存；步骤S5，每段内存测试之后，计算一次当前各段内存中数据异或结果的CRC值；步骤S6，在线计算的CRC值与预算计算好的CRC值做比较，若相同则认为本段内存与其他内存无耦合，继续进行下一段内存的测试，重复步骤S5，若不同则认为发现耦合，算法终止。
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