[发明专利]玻璃基板的垂度测量装置及方法在审
申请号: | 201610844685.7 | 申请日: | 2016-09-22 |
公开(公告)号: | CN106441189A | 公开(公告)日: | 2017-02-22 |
发明(设计)人: | 李志勇;郑权;王丽红;闫冬成;李俊锋;张广涛 | 申请(专利权)人: | 东旭科技集团有限公司;东旭集团有限公司 |
主分类号: | G01B21/02 | 分类号: | G01B21/02;G01B21/32 |
代理公司: | 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙)11447 | 代理人: | 陈庆超;桑传标 |
地址: | 100070 北京市丰台区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种玻璃基板的垂度测量装置及方法,其中,测量装置包括相互平行设置的第一支撑架(1)和第二支撑架(2),用于支撑所述玻璃基板(3),所述第一支撑架(1)和第二支撑架(2)之间设置有中间支板(4),具有:第一工作状态,支撑所述玻璃基板(3)使其保持水平;第二工作状态,远离所述玻璃基板(3)使其中部下垂。通过上述技术方案,在两个支撑架之间设置中间支板,使玻璃基板具有水平和中部下垂两种工作状态,以完成玻璃基板垂度的测量。一方面,该测量装置设计简单,使用方便,成本低;另一方面,该测量方法能够保证玻璃基板垂度测量的准确性和可靠性。 | ||
搜索关键词: | 玻璃 测量 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种玻璃基板的垂度测量装置,包括相互平行设置的第一支撑架(1)和第二支撑架(2),所述第一支撑架(1)和所述第二支撑架(2)用于支撑所述玻璃基板(3),其特征在于,所述第一支撑架(1)和所述第二支撑架(2)之间设置有中间支板(4),所述中间支板(4)具有:第一工作状态,支撑所述玻璃基板(3)使其保持水平;第二工作状态,远离所述玻璃基板(3)使其中部下垂。
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