[发明专利]一种相位校正方法和装置

摘要

本发明实施例公开了一种相位校正方法，包括：对各样点的信号值进行M次方处理，将M次方处理后的各样点的信号值划分至至少一个并行段；对每个并行段中样点的信号值进行划分得到预设数目的平均块，对每个平均块中样点的信号值进行合并得到所述每个平均块的信号值，对所述每个平均块的信号值进行低通滤波处理，得到所述每个平均块低通滤波后的信号值；根据所述每个平均块低通滤波后的信号值，确定所述每个平均块的相位偏移值；根据所述每个平均块的相位偏移值和所述每个平均块中每个样点的相位值，得到所述每个平均块中每个样点的校正后相位值。本发明实施例还同时公开了一种相位校正装置。

主权项

1.一种相位校正方法，其特征在于，包括：对各样点的信号值进行M次方处理，将M次方处理后的各样点的信号值划分至至少一个并行段，其中，M为预设值；对每个并行段中样点的信号值进行划分得到预设数目的平均块，对每个平均块中样点的信号值进行合并得到所述每个平均块的信号值，对所述每个平均块的信号值进行低通滤波处理，得到所述每个平均块低通滤波后的信号值；根据所述每个平均块低通滤波后的信号值，确定所述每个平均块的相位偏移值；根据所述每个平均块的相位偏移值和所述每个平均块中每个样点的相位值，得到所述每个平均块中每个样点的校正后相位值；其中，所述根据所述每个平均块低通滤波后的信号值，确定对应的所述每个平均块的相位偏移值，包括：将所述每个平均块低通滤波后的信号值，转换成极坐标下的每个平均块低通滤波后的信号值；将所述极坐标下的每个平均块低通滤波后的信号值对应的相位值除以M，得出所述每个平均块的相位偏移值。