[发明专利]一种频谱检测方法及系统有效
| 申请号： | 201610839210.9 | 申请日： | 2016-09-21 |
| 公开（公告）号： | CN106170139B | 公开（公告）日： | 2019-10-01 |
| 发明（设计）人： | 许文俊;吴翠云;周雪梅;段皓 | 申请（专利权）人： | 北京邮电大学 |
| 主分类号： | H04W24/08 | 分类号： | H04W24/08;H04W28/02;H04W72/04 |
| 代理公司： | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人： | 马敬;项京 |
| 地址： | 100876 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种频谱检测方法及系统，所述频谱检测方法包括：获取待检测采样信号的功率谱；获取所述功率谱的检测门限，其中，所述检测门限为检测所述待检测采样信号中有无发射信号的门限；获取所述功率谱的检测统计量；比较所述检测门限和所述检测统计量，当所述检测统计量大于所述检测门限时，则确定所述待检测采样信号中含有所述发射信号，当所述检测统计量小于或等于所述检测门限时，则确定所述待检测采样信号中不含所述发射信号。本发明实现了在低信噪比环境下提高待检测采样信号检测效率，更加准确的感知频谱中是否有可用资源。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 频谱 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种频谱检测方法，其特征在于，包括：获取待检测采样信号的功率谱；获取所述功率谱的检测门限，其中，所述检测门限为检测所述待检测采样信号中有无发射信号的门限；获取所述功率谱的检测统计量；比较所述检测门限和所述检测统计量，当所述检测统计量大于所述检测门限时，则确定所述待检测采样信号中含有所述发射信号，当所述检测统计量小于或等于所述检测门限时，则确定所述待检测采样信号中不含所述发射信号；所述获取所述功率谱的检测统计量，包括：获取所述功率谱的均值和所述功率谱的方差；通过所述功率谱的均值和所述功率谱的方差，获取所述待检测采样信号功率谱的检测统计量；所述功率谱的检测统计量为：R0＝var(Pk)×mean(Pk)其中，R0为所述检测采样信号的检测统计量，Pk为所述待检测采样信号的功率谱，var(Pk)为所述待检测采样信号的功率谱的方差，mean(Pk)为所述待检测采样信号的功率谱的均值。
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