[发明专利]器件检测方法有效
| 申请号： | 201610807384.7 | 申请日： | 2016-09-01 |
| 公开（公告）号： | CN107796825B | 公开（公告）日： | 2021-01-05 |
| 发明（设计）人： | 诸庆;张鼎;谷新 | 申请（专利权）人： | 宁波舜宇光电信息有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95;G01N21/956 |
| 代理公司： | 北京谨诚君睿知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11538 | 代理人： | 延慧;陆鑫 |
| 地址： | 315400 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种器件检测方法，包括：以第一光源照射被测器件表面，并在第一光源的照射下对被测器件进行拍照，得到第一图像；根据第一图像对被测器件进行定位；以第二光源照射被测器件表面，并在第二光源的照射下对被测器件进行拍照，得到第二图像；对第二图像进行分析，确定被测器件是否合格。本发明能够对器件进行定位检测和缺陷检测，既保证了器件的所在位置准确，同时能够检测出器件是否是合格器件，从而有助于对器件执行对准、组装等后续操作，有效提高了产品的质量。另外，本发明还实现了定位和缺陷检测的一体化执行，能够避免器件在检测时在不同工位之间传递，从而提高了检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 器件 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种器件检测方法，其特征在于，包括：以第一光源照射被测器件表面，并在所述第一光源的照射下通过图像采集设备对所述被测器件进行拍照，得到第一图像；根据所述第一图像对所述被测器件进行定位；以第二光源照射所述被测器件表面，并在所述第二光源的照射下通过所述图像采集设备对所述被测器件进行拍照，得到第二图像；对所述第二图像进行分析，确定所述被测器件是否合格。
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