[发明专利]一种平板探测器、X射线成像系统及自动曝光检测方法有效
申请号: | 201610794885.6 | 申请日: | 2016-08-31 |
公开(公告)号: | CN107773259B | 公开(公告)日: | 2021-06-11 |
发明(设计)人: | 欧阳纯方;金利波;邱承彬 | 申请(专利权)人: | 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 余明伟 |
地址: | 201201 上海市浦东新区张江*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种平板探测器、X射线成像系统及自动曝光检测方法,包括:第一闪烁体层、图像传感器、自动曝光检测传感器及PCB电路板;与X射线源、显示设备组成X射线成像系统。自动曝光检测传感器清空各像素单元中的电荷;采集各像素单元中的电荷,并计算其累积分布函数,以累积分布函数的设定概率所对应的电压值作为参考值;若所述参考值未超出阈值电压则判定为无X射线,返回清空;若所述参考值超出阈值电压则判定为有X射线,执行下一次清空、采集和比较,至少连续2次判定有X射线则发出曝光请求信号以实现自动曝光检测。本发明实现自动曝光检测的全视野检测,减少误触发,灵敏度高,有效提高图像采集质量。 | ||
搜索关键词: | 一种 平板 探测器 射线 成像 系统 自动 曝光 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种平板探测器,其特征在于,所述平板探测器至少包括:第一闪烁体层,用于将X射线转化为可见光;位于所述第一闪烁体层下层的图像传感器,用于采集图像信息;位于所述图像传感器下层的自动曝光检测传感器,根据穿过所述图像传感器的光信号检测曝光动作,并触发曝光请求信号;其中,所述自动曝光检测传感器的尺寸不小于所述图像传感器的尺寸,包括第一像素阵列、第一扫描驱动电路及第一读取控制电路;所述第一像素阵列接收光信号,并转化为电信号后储存于各像素单元中;所述第一扫描驱动电路连接所述第一像素阵列,用于逐行打开各像素单元;所述第一读取控制电路连接所述第一像素阵列,用于读取各像素单元中的电荷;以及,位于所述自动曝光检测传感器下层的PCB电路板,接收曝光请求信号,并据此读取图像信息,对图像信息进行处理。
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