[发明专利]一种提高NANDFLASH可靠性的方法及装置在审

专利信息
申请号: 201610784259.9 申请日: 2016-08-31
公开(公告)号: CN106409321A 公开(公告)日: 2017-02-15
发明(设计)人: 吴旋 申请(专利权)人: 福建联迪商用设备有限公司
主分类号: G11C5/14 分类号: G11C5/14;G11C16/10
代理公司: 福州市博深专利事务所(普通合伙)35214 代理人: 林志峥
地址: 350000 福建省福州市鼓*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明涉及闪存技术领域,具体涉及一种提高NAND FLASH可靠性的方法及装置,所述方法包括如下步骤NAND控制器接收到中断信号后,判断NAND FLASH当前的操作的类型;若为编程操作,利用所述电容完成编程操作,通过NAND FLASH控制器复位NAND FLASH,结束当前正在进行的操作;若不为编程操作,通过NAND FLASH控制器复位NAND FLASH,结束当前正在进行的操作。本发明的有益效果在于本发明抓住了掉电需要保护的关键操作‑编程操作,通过保证掉电时完成整个编程操作,有效避免了掉电对NANDFLASH数据的损坏,保证了使用NANDFLASH终端的数据可靠性。
搜索关键词: 一种 提高 nandflash 可靠性 方法 装置
【主权项】:
一种提高NAND FLASH可靠性的方法,其特征在于,包括如下步骤:在使用过程中,NAND FLASH进行读取、擦除或编程的操作;NAND控制器接收到中断信号后,判断NAND FLASH当前的操作的类型;所述NAND FLASH包括支持完成一次NAND的编程操作的电容;若为编程操作,利用所述电容完成编程操作,通过NAND FLASH控制器复位NAND FLASH,结束当前正在进行的操作;若不为编程操作,通过NAND FLASH控制器复位NAND FLASH,结束当前正在进行的操作。
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