[发明专利]一种轴孔配合间隙测量装置及其测量方法

摘要

本发明公开了一种基于光学测微仪的轴孔配合间隙测量装置及其测量方法，实现了轴和孔在装配过程中的实时测量。装置具体为：一号基座、二号基座和三轴位移台顺次安装在实验底板上；轴套套在待测轴上，轴套通过待测轴安装支座固定安装在二号基座，使得待测轴平行于实验底板，待测轴一端朝向一号基座伸出、另一端朝向三轴位移台伸出。力传感器通过传感器安装组件安装在一号基座上，并在传感器安装组件的控制下做上下直线运动，待测轴朝向一号基座伸出部分位于力传感器的直线运动路径下方。光学测微仪安装在三轴位移台上，通过三轴位移台的调整，使得待测轴朝向三轴位移台伸出部分位于光学测微仪的测量区域中。

主权项

1.一种轴孔配合间隙的测量装置，其特征在于，包括一号基座(7)、二号基座(8)、三轴位移台(10)、实验底板(9)、光学测微仪(11)、传感器安装组件、力传感器(4)、待测轴安装支座(6)、待测轴(12)以及轴套(13)；所述一号基座(7)、二号基座(8)和三轴位移台(10)顺次安装在实验底板(9)上；所述轴套(13)套在所述待测轴(12)上，轴套(13)通过所述待测轴安装支座(6)固定安装在所述二号基座(8)，使得待测轴(12)平行于所述实验底板(9)，待测轴(12)一端朝向一号基座(7)伸出、另一端朝向三轴位移台(10)伸出，其中朝向三轴位移台(10)伸出部分长于朝向一号基座(7)伸出部分；所述力传感器(4)通过传感器安装组件安装在所述一号基座(7)上，并在传感器安装组件的控制下做上下直线运动，待测轴(12)朝向一号基座(7)伸出部分位于力传感器(4)的直线运动路径下方；所述光学测微仪(11)安装在所述三轴位移台(10)上，通过所述三轴位移台(10)的调整，使得待测轴(12)朝向三轴位移台(10)伸出部分位于所述光学测微仪(11)的测量区域中；所述传感器安装组件包括传感器安装板(1)、单轴位移台(2)、L型转接板(3)以及缓冲橡胶(5)；所述单轴位移台(2)通过所述L型转接板(3)固定在所述一号基座(7)上，使得所述单轴位移台(2)的移动方向为上下移动；所述传感器安装板(1)为L型平板，其中L型一边固定于单轴位移台(2)上，另一边设有传感器安装孔，其中设有传感器安装孔的一边朝下；所述力传感器(4)通过所述传感器安装孔安装于所述传感器安装板(1) 下方；所述缓冲橡胶(5)固定于所述力传感器(4)下方。