[发明专利]热收缩带的红外热成像检测方法及装置在审
| 申请号： | 201610772578.8 | 申请日： | 2016-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN107796853A | 公开（公告）日： | 2018-03-13 |
| 发明（设计）人： | 俞跃 | 申请（专利权）人： | 中国特种设备检测研究院 |
| 主分类号： | G01N25/72 | 分类号： | G01N25/72 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司11205 | 代理人： | 刘丹,黄健 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种热收缩带的红外热成像检测方法及装置。该装置包括获取热收缩带在电磁激励源激励后的表面热像图，根据表面热像图获取热收缩带表面的温度，根据温度确定热收缩带的缺陷信息，其中，缺陷信息包括热收缩带表面的缺陷区域的面积，缺陷区域的位置以及缺陷区域的缺陷程度，实现了可以在电磁源激励热收缩带后通过获取热收缩带的表面热像图，再根据表面热像图确定热收缩带表面的温度，根据温度确定热收缩带的缺陷信息，相较于现有技术中的破坏性检测，本发明中的检测方法可以实现对热收缩带的全面检测，从而，提高了检测的准确率，另外，本发明中的检测方法实现简单，检测效率较高。 | ||
| 搜索关键词： | 收缩 红外 成像 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种热收缩带的红外热成像检测方法，其特征在于，包括：获取热收缩带在电磁激励源激励后的表面热像图；根据所述表面热像图获取所述热收缩带表面的温度；根据所述温度确定所述热收缩带的缺陷信息；其中，所述缺陷信息包括：所述热收缩带表面的缺陷区域的面积，所述缺陷区域的位置以及所述缺陷区域的缺陷程度。
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