[发明专利]一种芯片测试装置及系统有效
| 申请号： | 201610762681.4 | 申请日： | 2016-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN106371040B | 公开（公告）日： | 2019-02-22 |
| 发明（设计）人： | 张健 | 申请（专利权）人： | 通富微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/06 | 分类号： | G01R33/06 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 何青瓦 |
| 地址： | 226001 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片测试装置，包括：测试平台、多个测试座；其中，每一测试座上设有磁极，测试平台上设有与每一磁极对应设置的磁感应器用于输出电信号。本发明还公开了一种芯片测试系统。通过上述方式，本发明可根据输出电信号大小不同防止测试座安装到与测试工位不对应的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 装置 系统 | ||
【主权项】：
1.一种芯片测试装置，其特征在于，包括：测试平台、多个测试座；其中，每一测试座上设有磁极，所述测试平台上设有与每一磁极对应设置的磁感应器用于输出电信号；所述磁极设置于所述测试座底部，且在每一测试座底部的设置位置均不同。
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