[发明专利]一种主动式测试向量匹配方法有效

专利信息
申请号: 201610757297.5 申请日: 2016-08-29
公开(公告)号: CN106405373B 公开(公告)日: 2019-06-21
发明(设计)人: 于明 申请(专利权)人: 北京自动测试技术研究所
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京汲智翼成知识产权代理事务所(普通合伙) 11381 代理人: 陈曦
地址: 100088 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种主动式测试向量匹配方法,包括如下步骤:S1,设计DSP的测试程序,通过程序配置器将DSP的测试程序固化到芯片中;S2,自动测试设备通过异步串行通信方式与DSP连接,向DSP发送匹配控制字;根据匹配控制字,使芯片到达唯一对应的工作状态和输出状态;S3,自动测试设备运行匹配控制字对应的测试向量,完成所述匹配控制字对应的主动式匹配测试;S4,重复步骤S2~S3,直至所有匹配控制字对应的测试向量测试完成,通过测试向量运行结果与匹配控制字对应的芯片到达唯一对应的工作状态和输出状态进行对比得到DSP的测试结果。提高了测试效率,减少了测试时间和测试成本。
搜索关键词: 一种 主动 测试 向量 匹配 方法
【主权项】:
1.一种主动式测试向量匹配方法,其特征在于包括如下步骤:S1,设计DSP的测试程序,通过程序配置器将DSP的测试程序固化到芯片中;其中,所述测试程序包括匹配控制字与芯片操作指令码的对应关系以及芯片操作指令码的内容;S2,自动测试设备通过异步串行通信方式与DSP连接,向DSP发送匹配控制字;DSP识别匹配控制字,根据匹配控制字在固化到芯片中的测试程序中寻找对应的芯片操作指令码;在芯片内部执行匹配控制字唯一对应的芯片操作指令码,根据匹配控制字,使芯片到达唯一对应的工作状态和输出状态;S3,自动测试设备运行匹配控制字对应的测试向量,完成所述匹配控制字对应的主动式匹配测试;S4,重复步骤S2~S3,直至所有匹配控制字对应的测试向量测试完成,通过测试向量运行结果与匹配控制字对应的芯片到达唯一对应的工作状态和输出状态进行对比得到DSP的测试结果。
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