[发明专利]磁环表面缺陷提取方法

摘要

本发明公开了一种磁环表面缺陷提取方法，包括如下步骤：利用0TSU分割磁环图像S(X，Y)，得到磁环二值图像B(X，Y)，将B(X，Y)和S(X，Y)进行与运算，得到屏蔽背景图像F(X，Y)；利用Canny算法提取磁环图像F(X，Y)的边缘检测图像Q(X，Y)；将Q(X，Y)转换为数字形态学运算图像Q_x(X，Y)；对Q_x(X，Y)内部连通区域进行填充，得到掩模图像Q_m(X，Y)；将Q_m(X，Y)和Q_x(X，Y)进行异或运算，得到缺陷连通域图像Q′(X，Y)。本发明运行效率高和准确率高，稳定性和鲁棒性强，能够识别常见的缺陷的具有特点。

主权项

1.一种磁环表面缺陷提取方法，其特征是，包括如下步骤：(1‑1)利用OTSU分割磁环图像S(X，Y)，得到磁环二值图像B(X，Y)，将B(X，Y)和S(X，Y)进行与运算，得到屏蔽背景图像F(X，Y)；(1‑2)利用Canny算法提取屏蔽背景图像F(X，Y)的边缘检测图像Q(X，Y)；利用公式G(X，Y)＝H(X，Y，σ)*F(X，Y)对F(X，Y)进行降噪处理，得到平滑后的图像G(X，Y)；其中，H(X，Y，σ)为高斯滤波函数，σ为高斯滤波函数的标准差，σ为0.1至0.5；利用公式计算图像G(X，Y)的梯度幅值T[X，Y]；利用公式θ[X，Y]＝arctan(GX(X，Y)/GY(X，Y))计算图像G(X，Y)的方向角θ[X，Y]；其中，Gx＝[F(X+1，Y)‑F(X，Y)+F(X+1，Y+1)‑F(X，Y+1)]/2Gy＝[F(X，Y+1)‑F(X，Y)+F(X+1，Y+1)‑F(X+1，Y)]/2；利用插值对梯度幅值T(X，Y)进行非极大值抑制：将非极大值抑制后的图像G(X，Y)中最大的像素值记为Lmax，统计非极大值抑制后的图像G(X，Y)中1‑Lmax各灰度级的像素个数，并按灰度级大小进行排列，设定1‑Lmax各灰度级像素总数为Hist；设定C×Hist的灰度值为L，其中，0＜C＜1，则利用公式THH＝L+1计算高阈值THH，利用公式THL＝0.3*THH计算低阈值THL；得到边缘检测图像Q(X，Y)；(1‑3)将Q(X，Y)转换为数字形态学运算图像Qx(X，Y)；利用公式计算并得到Q(X，Y)的数字形态学运算图像Q_x(X，Y)；其中，H为腐蚀和膨胀结构元素，表示膨胀，Θ表示腐蚀；(1‑4)对Qx(X，Y)内部连通区域进行填充，得到掩模图像Qm(X，Y)；在Qx(X，Y)中查找所有连通域N′i，设定连通域N′i中的每个像素的像素值均为255，得到掩模图像Qm(X，Y)，其中i为连通域的序号；(1‑5)将Qm(X，Y)和Qx(X，Y)进行异或运算，得到缺陷连通域图像Q′(X，Y)。