[发明专利]芯片调试方法和装置

摘要

本发明揭示了一种芯片调试方法和装置，所述方法包括以下步骤：与信息处理设备的通信接口连接，从信息处理设备获取调试配置信息；根据调试配置信息从调试芯片采集采样信号；将采样信号输出至信息处理设备。从而，通过利用现有的信息处理设备进行调试配置信息的设置，根据调试配置信息从调试芯片采集到采样信号后再输出至信息处理设备，再利用信息处理设备根据采样信号对调试芯片进行逻辑分析处理和调试操作，充分利用了现有设备的功能，极大的降低了成本，实现成本低。而且，用户可以在信息处理设备上便捷、直观的进行调试配置信息的设置以及对调试芯片进行逻辑分析处理和调试操作，因此操作方便快捷，功能足够丰富。

主权项

1.一种芯片调试方法，其特征在于，包括以下步骤：与信息处理设备的通信接口连接，从所述信息处理设备获取调试配置信息；根据所述调试配置信息从调试芯片采集采样信号；所述调试配置信息包括通道设置信息，根据通道设置信息配置传输待采样的信号的信号通道和传输用于采样条件判断的信号的信号通道；所述配置信息包括采样条件；获取调试芯片传输的输入信号并写入内存；根据所述输入信号和所述采样条件确定采样点；根据所述采样点、所述采样条件和所述内存的存储空间确定采样结束点；当到达所述采样结束点时停止向所述内存写入所述输入信号，此时所述内存中包括的输入信号记为采样信号；将所述采样信号输出至所述信息处理设备。