[发明专利]一种基于预校正光栅投影的三维面形测量方法在审
| 申请号： | 201610651314.7 | 申请日： | 2016-08-10 |
| 公开（公告）号： | CN106017358A | 公开（公告）日： | 2016-10-12 |
| 发明（设计）人： | 边心田 | 申请（专利权）人： | 边心田;淮阴师范学院 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25 |
| 代理公司： | 北京捷诚信通专利事务所(普通合伙) 11221 | 代理人： | 王卫东 |
| 地址： | 223300 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于预校正光栅投影的三维面形测量方法，包括以下步骤：通过计算机产生标准的预校正光栅条纹图像；利用投影仪将预校正光栅条纹图像投影到被测量物体上，并确保投影到参考面上的光栅条纹等周期性分布；利用摄像机拍摄投影到被测量物体上对应的变形光栅条纹图像，并上传到计算机；计算机根据投影仪的投影光轴和摄像机成像光轴异面情况下的相位与被测量物体高度映射关系对所拍条纹图像进行分析，最终计算恢复出被测物体的面形分布。本发明改进了投影光栅条纹的分布，推导出投影仪的投影光轴和摄像机成像光轴异面情况下的相位‑高度映射算法，放宽了系统测量的约束条件，使测量系统的搭建更加容易，并能实现高精度测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 校正 光栅 投影 三维 测量方法 | ||
【主权项】：
一种基于预校正光栅投影的三维面形测量方法，其特征在于，包括以下步骤：通过计算机产生标准的预校正光栅条纹图像；利用投影仪将预校正光栅条纹图像投影到被测量物体上，在被测量物体上产生变形的光栅条纹图像，并确保投影到参考面上的光栅条纹等周期性分布；利用摄像机拍摄投影到被测量物体上对应的变形光栅条纹图像，并上传到计算机；计算机根据投影仪的投影光轴和摄像机成像光轴异面情况下的相位与被测量物体高度映射关系对所拍条纹图像进行分析，最终计算恢复出被测物体的面形分布。
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