[发明专利]一种基于细观裂纹增长率确定岩体损伤门槛的方法有效

专利信息
申请号: 201610642705.2 申请日: 2016-08-08
公开(公告)号: CN106294984B 公开(公告)日: 2019-03-22
发明(设计)人: 夏祥;李海波;刘亚群;于崇;刘博 申请(专利权)人: 中国科学院武汉岩土力学研究所
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50;G06Q50/08
代理公司: 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 代理人: 汤东凤
地址: 430000 湖北*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了一种基于细观裂纹增长率确定岩体损伤门槛的方法,其特征在于:包括对目标岩体采样进行常规物理力学特性实验和薄片分析,根据得到的岩体强度、变形特性和细观颗粒形状、胶结状态,采用计算机模拟技术重建岩体试样的数值模型,对试样的现实实验过程进行力学行为和变形过程的数值重放,考察细观裂纹数目增长随应变的变化规律,引入细观裂纹增长率这一参数,通过其峰值点对应的岩体损伤定义损伤门槛值。本发明揭示岩石细观裂纹在加载条件下的增长规律,引入细观裂纹增长率的概念,提出了一种新的确定岩体损伤门槛值的方法。通过本发明的分析方法可以得到规范化岩体损伤门槛,为其在水利水电、核电和岩土工程中的推广运用奠定完善的基础。
搜索关键词: 一种 基于 裂纹 增长率 确定 损伤 门槛 方法
【主权项】:
1.一种基于细观裂纹增长率确定岩体损伤门槛的方法,其特征在于包括如下步骤:步骤一、加工岩石试样,进行密度、孔隙率测量,然后进行常规单轴压缩实验,获得全过程应力应变曲线,确定试样的抗压强度、泊松比、弹性模量参数,同时,切割岩石薄片,进行岩矿鉴定和薄片分析,获得岩石矿物成分、细观颗粒分布、尺寸和胶结特征信息;步骤二、采用有限元、离散元计算机模拟技术重建岩体试样的数值模型,对试样的现实实验过程进行数值重放,直到数值试件的抗压强度、泊松比、弹性模量与步骤一得到的实验结果一致;步骤三、统计压缩过程中岩石颗粒间的粘结断裂或失效情况,考察细观裂纹总数随应变的变化规律,引入细观裂纹增长率这一参数;步骤四、通过细观裂纹增长率峰值点对应的岩体损伤定义损伤门槛值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院武汉岩土力学研究所,未经中国科学院武汉岩土力学研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610642705.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top