[发明专利]全场光学相干层析方法及装置有效
| 申请号： | 201610617448.7 | 申请日： | 2016-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN106175689B | 公开（公告）日： | 2020-06-02 |
| 发明（设计）人： | 周红仙;王毅;马振鹤 | 申请（专利权）人： | 东北大学秦皇岛分校 |
| 主分类号： | A61B5/00 | 分类号： | A61B5/00 |
| 代理公司： | 北京联创佳为专利事务所(普通合伙) 11362 | 代理人： | 刘美莲;郭防 |
| 地址： | 066004 河北省秦*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种全场光学相干层析方法及装置，所述方法包括：S1，确定平面，将待成像样品的顶部与平面重合；S2，调整反射镜使其连续往返运动，并使得经反射镜上各点反射的参考光和经待成像样品上反射的探测光，在高速面阵相机上的相位差在0～2π范围内连续变化；S3，高速面阵相机采集随时间变化的信号，计算所述待成像样品处于平面的断层图像；S4，带动待成像样品沿Z轴方向向上平移，重复步骤S2～S3，实现对样品的不同断层进行成像。本发明可快速、准确的获得待测样品各个断层的成像，外部环境不会影响断层图像重构的精确性。 | ||
| 搜索关键词： | 全场 光学 相干 层析 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种全场光学相干层析方法，其特征在于，包括以下步骤：S1，确定平面(12)，将待成像样品(11)的顶部与平面(12)重合；其中，所述的平面(12)通过以下方法确定：从所述平面(12)上各点反射的探测光和从反射镜(6)上对应各点反射的参考光，在高速面阵相机(4)上的光程差小于光源(1)的相干长度，且所述的探测光和参考光在高速面阵相机(4)上进行干涉；S2，调整反射镜(6)使其连续往返运动，并使得经反射镜(6)上各点反射的参考光和经待成像样品(11)上反射的探测光，在高速面阵相机(4)上的相位差在0～2π范围内连续变化；S3，高速面阵相机(4)采集随时间变化的信号，计算所述待成像样品(11)处于平面(12)的断层图像；S4，带动待成像样品(11)沿Z轴方向向上平移，重复步骤S2～S3，实现对样品的不同断层进行成像。
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