[发明专利]异常样本识别方法、系统、服务器及电子设备有效
| 申请号： | 201610613600.4 | 申请日： | 2016-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN107664621B | 公开（公告）日： | 2020-02-11 |
| 发明（设计）人： | 彭云发;薛庆逾;石超 | 申请（专利权）人： | 上海创和亿电子科技发展有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/359 | 分类号： | G01N21/359;G06K9/62 |
| 代理公司： | 31219 上海光华专利事务所(普通合伙) | 代理人： | 王再朝 |
| 地址： | 201808 上海市嘉*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种异常样本识别方法、系统、服务器及电子设备，所述异常样本识别方法包括以下步骤：将采集到的样本的光谱形成第一光谱矩阵，并标准化处理所述第一光谱矩阵，使其转换成第二光谱矩阵；对所述第二光谱矩阵进行预设异常样本识别处理，以获取用于识别样本中异常样本的异常判断阈值。本发明所述的异常样本识别方法采用计算每条样本的光谱的范数来作为光谱数据异常样本的识别，不改变整体光谱数据的重心和离散度，采用该方法不仅对单个奇异样本具有准确的识别效果，对于整体样本中有多个奇异样本时同于具有较高的识别率。 | ||
| 搜索关键词： | 样本 光谱矩阵 样本识别 光谱 标准化处理 电子设备 光谱数据 异常判断 整体光谱 整体样本 离散度 识别率 范数 预设 服务器 采集 重心 转换 | ||
【主权项】：
1.一种异常样本识别方法，其特征在于，所述异常样本识别方法包括以下步骤：/n将采集到的样本的光谱形成第一光谱矩阵X
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