[发明专利]操作多个测量机的方法和包括至少两个测量机的整体装置有效
| 申请号： | 201610596240.1 | 申请日： | 2016-06-03 |
| 公开（公告）号： | CN106353089B | 公开（公告）日： | 2019-12-17 |
| 发明（设计）人： | H·维曼 | 申请（专利权）人： | 克林格伦贝格股份公司 |
| 主分类号： | G01M13/02 | 分类号： | G01M13/02;G01B21/00 |
| 代理公司： | 11038 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 柳爱国 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 瑞士;CH |
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| 摘要： | 一种用于操作多个测量机(20.1，20.2)的方法，其中涉及设计成用于测量相同部件(4)的相同类型的测量机(20.1，20.2)，所述方法具有以下步骤：‑在第一测量机(20.1)中测量第一数量的相同部件(4)；‑在第二测量机(20.2)中测量第二数量的相同部件；‑执行比较过程，其中在所述比较过程的范围内：使第一数量的至少一个值(W1)与第二数量的至少一个相应的值(W2)相关联，以便由此确定第一测量机(20.1)的测量结果和第二测量机(20.2)的测量结果之间的偏差。 | ||
| 搜索关键词： | 操作 测量 方法 包括 至少 两个 整体 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于操作多个测量机的方法，其中，涉及设计成用于测量相同部件(4)的相同类型的测量机，所述方法具有以下步骤：/n-在所述多个测量机的第一测量机中测量第一数量的相同部件(4)；/n-在所述多个测量机的第二测量机中测量第二数量的相同部件；/n-其中相同部件是除生产引起的偏差外为相同的工件；/n-执行比较过程，其中在所述比较过程的范围内：/n使第一数量的至少一个值(W1)与第二数量的至少一个相应的值(W2)相关联以便由此确定第一测量机的测量结果和第二测量机的测量结果之间的偏差，其中第一数量的值(W1)和第二数量的相应的值(W2)涉及统计值或元数据，所述统计值或元数据表现出第一测量机和第二测量机的测量行为的特征。/n
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