[发明专利]一种太阳能电池片的灰片的检测方法有效
申请号: | 201610587718.4 | 申请日: | 2016-07-25 |
公开(公告)号: | CN106298568B | 公开(公告)日: | 2019-04-12 |
发明(设计)人: | 白建波;陶卫东;李华锋;王光清;陈健豪;张臻;刘升 | 申请(专利权)人: | 河海大学常州校区 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 常州市科谊专利代理事务所 32225 | 代理人: | 孙彬 |
地址: | 213022 江苏省常*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种太阳能电池片的灰片的检测方法,利用机器视觉检测系统,其步骤如下:通过机器视觉检测系统的CCD摄像机采集太阳能电池片RGB图像;通过背光源产生电池片区域,通过R通道提取电池片栅线;两个步骤相结合去除外围和白色干扰;最后转换成HSV模型计算色调H、饱和度S、亮度V三个分量的平均值;采用中心饱和度值比较法来区分灰片。本发明利用机器视觉系统,采用中心饱和度值比较法对太阳能电池片的灰片进行分选,取代传统人工检测方式,有效地提高电池片外观质量,降低人工作业强度,降低人工操作破片率,减少人为对电池片的污染,提高生产率。 | ||
搜索关键词: | 一种 太阳能电池 检测 方法 | ||
【主权项】:
1.一种太阳能电池片的灰片的检测方法,其特征在于利用机器视觉检测系统,其步骤如下:(1)、通过机器视觉检测系统的CCD摄像机采集太阳能电池片RGB图像;(2)、通过背光源产生电池片区域;(3)、通过R通道提取电池片栅线;(4)、步骤(2)和步骤(3)相结合去除外围和白色干扰;(5)、最后转换成HSV模型,所述HSV模型中含有三个矢量值,即色调H、饱和度S、亮度V,计算色调H、饱和度S、亮度V三个分量的平均值;(6)、采用中心饱和度值比较法来区分灰片,具体比较如下:当色调H值低于102和亮度V值高于90时,以饱和度S值134.2区分灰片;当色调H值低于102和亮度V值低于90时,以饱和度S值134.3区分灰片;当色调H值在102~104.5之间和亮度V值高于85时,以饱和度S值134区分灰片;当色调H值在102~104.5之间和亮度V值低于85时,以饱和度S值134.1区分灰片;当色调H值高于104.5和亮度V值高于80时,以饱和度S值133.8区分灰片;当色调H值高于104.5和亮度V值低于80时,以饱和度S值值133.9区分灰片。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造