[发明专利]光检测器的输出修正方法和光谱分析装置或分光器有效
申请号: | 201610577108.6 | 申请日: | 2016-07-20 |
公开(公告)号: | CN106370303B | 公开(公告)日: | 2020-12-04 |
发明(设计)人: | 安藤嘉健;西村克美;境行男 | 申请(专利权)人: | 株式会社堀场制作所 |
主分类号: | G01J3/42 | 分类号: | G01J3/42;G01J3/45;G01J3/12;G01N21/3504;G01N21/01 |
代理公司: | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人: | 周善来;李雪春 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种光检测器的输出修正方法和光谱分析装置或分光器,能够用短时间且用简单的结构进行用于光谱分析装置(100)或分光器的光检测器(4)的输出修正(校准曲线的制作)。在不使特性已知的光学元件(6)介于其间和不介于其间的两种情况下,使从光源(1)射出的光入射到所述光检测器(4),取得作为分别针对入射光所包含的多个规定波数的光的、所述光检测器(4)的输出值的第一输出值和第二输出值,把每个所述规定波数的第一输出值和第二输出值的比以及所述光学元件(6)的波数透过特性或反射特性作为参数,求出用于从所述光检测器(4)的输出值计算入射光的强度的计算式。 | ||
搜索关键词: | 检测器 输出 修正 方法 光谱分析 装置 分光 | ||
【主权项】:
一种光检测器的输出修正方法,其用于光谱分析装置或分光器,所述光谱分析装置或分光器包括:光源;分光部,把从所述光源射出的光分光;以及光检测器,用于测量从所述分光部出来的光的强度,所述光检测器的在规定范围内的入射光强度与输出值的关系实质上成为线性关系,所述光检测器的输出修正方法的特征在于,使从所述光源射出的光以该光的强度处于所述范围内的方式使波数透过特性或波数反射特性已知的光学元件介于所述光源和所述光检测器之间地入射到所述光检测器,取得第一输出值,所述第一输出值是分别针对入射光所包含的多个规定波数的光的、所述光检测器的输出值,另一方面,使从所述光源射出的光不使所述光学元件介于所述光源和所述光检测器之间地入射到所述光检测器,取得第二输出值,所述第二输出值是分别针对入射光所包含的各个所述规定波数的光的、所述光检测器的输出值,将每个所述规定波数的所述第一输出值和所述第二输出值的比、以及所述光学元件的波数透过特性或波数反射特性作为参数,求出用于从所述光检测器的输出值计算入射光的强度的计算式。
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