[发明专利]基于模拟开关电路实现FPGA器件的测试系统及方法有效
| 申请号： | 201610521872.1 | 申请日： | 2016-07-05 |
| 公开（公告）号： | CN106448739B | 公开（公告）日： | 2023-07-28 |
| 发明（设计）人： | 朱璟辉;陈建光;陈思韬 | 申请（专利权）人： | 广东高云半导体科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/02 | 分类号： | G11C29/02 |
| 代理公司： | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人： | 林丽明 |
| 地址： | 510620 广东省广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种基于模拟开关电路实现FPGA器件的测试系统及方法，其测试系统包括：非易失性存储器、编程控制器、带隙基准电路以及三端口模拟开关电路，该三端口模拟开关电路的第一端口接带隙基准电路的输出电路端口，第二端口接双向测试接口，第三端口接非易失性存储器的输入端；所述编程控制器分别与非易失性存储器、带隙基准电路和三端口模拟开关电路连接，且该编程控制器还与I/O接口连接。本发明通过三端口模拟开关电路引入了双向的测试接口，从而可以单独对Bandgap Reference和非易失存储器进行测试和校正。在这些工作结束后，FPGA器件可进入正常工作状态。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 模拟 开关电路 实现 fpga 器件 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种基于模拟开关电路实现FPGA器件的测试系统，其特征在于，包括：非易失性存储器、编程控制器、带隙基准电路以及三端口模拟开关电路，该三端口模拟开关电路的第一端口接带隙基准电路的输出电路端口，第二端口接双向测试接口，第三端口接非易失性存储器的输入端；所述编程控制器分别与非易失性存储器、带隙基准电路和三端口模拟开关电路连接，且该编程控制器还与I/O 接口连接。
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