[发明专利]一种基于云端的集成电路测试信息整合分析系统及方法有效
| 申请号： | 201610518989.4 | 申请日： | 2016-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN106210013B | 公开（公告）日： | 2019-12-20 |
| 发明（设计）人： | 罗斌;刘远华;祁建华;凌俭波;邵嘉阳 | 申请（专利权）人： | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 |
| 主分类号： | H04L29/08 | 分类号： | H04L29/08 |
| 代理公司： | 31237 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 智云 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于云端的集成电路测试信息整合分析系统及方法，该方法包括：建立虚拟化的物理服务集群；利用各测试数据收集与在线效应器实时收集测试数据，并利用监控客户端根据客户的要求对测试数据收集与在线效应器收集的测试数据进行处理，包括验证数据、功能性能测试数据、测试条件、测试环境信息等芯片全套数测试相关信息，并送至云端服务器；于云端服务器，整合所述测试数据，并基于云端分布式数据部署；对整合后的测试数据采用海量数据挖掘分析技术及多种工艺验证分析方法进行整合分析，本发明为集成电路产业用户提供了整套安全可控、智能监控、安全预警、动态监控的集成电路测试信息整合服务。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 云端 集成电路 测试 信息 整合 分析 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于云端的集成电路测试信息整合分析系统，包括：/n多个测试数据收集与在线效应器，用于自动收集获取各集成电路的测试数据；/n监控客户端，根据客户的要求对测试数据收集与在线效应器的测试数据进行处理，并产生除了测试数据以外的记录信息，所述记录信息可以通知应用系统TestSystemPLUS进行处理数据；/n云端服务器，获取监控客户端处理后的测试数据及记录信息，以整合测试数据收集与在线效应器获得的集成电路的测试数据，并对获得的测试数据基于云端分布式数据部署。/n
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