[发明专利]热绝缘性能测量设备以及使用该设备的测量方法有效
申请号: | 201610513669.X | 申请日: | 2013-02-01 |
公开(公告)号: | CN106198617B | 公开(公告)日: | 2019-05-28 |
发明(设计)人: | 权载盛;金炯成;朴钟成;丁永声 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G01N25/20 | 分类号: | G01N25/20;F25D23/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 王新华 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 本发明公开热绝缘性能测量设备以及使用该设备的测量方法,该设备借助由热通量传感器测量的至热绝缘体的热通量来测量热绝缘体的热绝缘性能。所述设备包括:热通量传感器,其具有一个适于与待测物体接触的表面;第一热源,其布置在热通量传感器的上表面上,以向热通量传感器供热;热绝缘体,其布置在第一热源的上表面上;第三热源,其布置在热绝缘体的上表面上;第二热源,其布置在热通量传感器周围。 | ||
搜索关键词: | 绝缘 性能 测量 设备 以及 使用 测量方法 | ||
【主权项】:
1.一种热绝缘性能测量设备,包括:热通量传感器,具备与目标测量物体的一侧接触的下表面;第一热源,通过其下表面与所述热通量传感器的上表面接触以向所述热通量传感器供热,其中所述第一热源的所述下表面具有与所述热通量传感器的所述上表面相同的面积;第二热源,提供在所述第一热源周围使得其温度保持在与所述第一热源相同的温度并设置为与所述第一热源分隔开预定距离;以及绝缘体,设置在所述第一热源上,其中所述热绝缘性能测量设备配置为利用从位于所述目标测量物体的一侧的所述热通量传感器测量的热通量获得所述目标测量物体的热导率来测量所述目标测量物体的热绝缘性能。
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