[发明专利]弧光传感器及弧光探测的方法有效

专利信息
申请号: 201610509473.3 申请日: 2016-06-30
公开(公告)号: CN107560726B 公开(公告)日: 2020-01-14
发明(设计)人: 易星;陈维刚;卓越;张激 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: G01J1/42 分类号: G01J1/42
代理公司: 11240 北京康信知识产权代理有限责任公司 代理人: 李慧
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明提供了弧光传感器及弧光探测方法,该弧光探测包括:第一起偏器、第二起偏器、磁光材料、第一光过滤器及处理单元;第一起偏器,用于对入射的第一目标光进行偏振化处理,形成在第一偏振方向上的第一偏振光;第二起偏器,用于对入射的第二目标光进行偏振化处理,形成在第一偏振方向上的第二偏振光;磁光材料,处于电流磁场中,利用电流磁场对第一偏振光的偏振方向进行旋转,形成第三偏振光;第一光过滤器,用于对第三偏振光进行过滤,形成能够在第二偏振方向上通过的第四偏振光;处理单元,用于根据第二偏振光的强度及第四偏振光的强度,确定第二目标光是否为弧光。本方案能够提高弧光传感器的抗干扰性能。
搜索关键词: 弧光 传感器 探测 方法
【主权项】:
1.弧光传感器,其特征在于,包括:第一起偏器(101)、第二起偏器(102)、磁光材料(103)、第一光过滤器(104)及处理单元(105);/n所述第一起偏器(101),用于对入射的第一目标光进行偏振化处理,形成在第一偏振方向上的第一偏振光,并将所述第一偏振光传输给所述磁光材料(103);/n所述第二起偏器(102),用于对入射的第二目标光进行偏振化处理,形成在所述第一偏振方向上的第二偏振光;/n所述磁光材料(103),处于电流磁场中,利用所述电流磁场对所述第一偏振光的偏振方向进行旋转,形成第三偏振光,并将所述第三偏振光传输给所述第一光过滤器(104);/n所述第一光过滤器(104),用于对所述第三偏振光进行过滤,形成能够在第二偏振方向上通过的第四偏振光;/n所述处理单元(105),用于根据所述第二偏振光的强度及所述第四偏振光的强度,确定所述第二目标光是否为弧光。/n
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