[发明专利]物位测量方法和物位测量设备有效
| 申请号： | 201610471757.8 | 申请日： | 2016-06-24 |
| 公开（公告）号： | CN106323417B | 公开（公告）日： | 2020-10-27 |
| 发明（设计）人： | 伯恩哈德·科尔贝;迈克尔·菲舍尔;曼努埃尔·考夫曼 | 申请（专利权）人： | VEGA格里沙贝两合公司 |
| 主分类号： | G01F23/28 | 分类号： | G01F23/28 |
| 代理公司： | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人： | 曹正建;陈桂香 |
| 地址： | 德国沃*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及用于利用至少一个雷达传感器(1,13,15)和至少一个评估电子器件来测量填料的物位的方法，所述方法包括以下步骤：接收回波曲线(7,10)；接收多普勒频谱(18‑21)；通过所述评估电子器件评估所述多普勒频谱(18‑21)；以及在考虑到通过所述评估电子器件对所述多普勒频谱(18‑21)评估的结果的同时，通过所述评估电子器件评估所述回波曲线(7,10)。本发明还涉及包括至少一个雷达传感器(1,13‑15)和用于执行上述方法的控制和评估电子元件的物位测量设备。 | ||
| 搜索关键词： | 测量方法 测量 设备 | ||
【主权项】：
一种用于利用至少一个雷达传感器(1,13,15)和至少一个评估电子器件来测量填料的物位的方法，所述方法包括以下步骤：接收回波曲线(7,10)；接收多普勒频谱(18‑21)；通过所述评估电子器件评估所述多普勒频谱(18‑21)；以及在考虑到通过所述评估电子器件对所述多普勒频谱(18‑21)评估的结果的同时，通过所述评估电子器件评估所述回波曲线(7,10)。
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