[发明专利]含吸收介质石墨烯的表面缺陷腔光子晶体折射率传感器在审
| 申请号： | 201610470561.7 | 申请日： | 2016-06-23 |
| 公开（公告）号： | CN106053390A | 公开（公告）日： | 2016-10-26 |
| 发明（设计）人： | 陈颖;赵志勇;朱奇光;罗佩;田亚宁;刘晓飞 | 申请（专利权）人： | 燕山大学 |
| 主分类号： | G01N21/41 | 分类号： | G01N21/41;G02B6/122 |
| 代理公司： | 秦皇岛一诚知识产权事务所(普通合伙) 13116 | 代理人： | 李合印 |
| 地址： | 066004 河北省*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明公开一种含吸收介质石墨烯的表面缺陷腔光子晶体折射率传感器，该传感器由表面缺陷腔(1)、周期性光子晶体(2)和耦合棱镜(3)组成。其中，周期性光子晶体由高折射率材料(A)和低折射率材料(B)周期交替排列而成。表面缺陷腔由吸收介质石墨烯(C)和低折射率材料(B)构成，其结构组成为(B)‑(C)‑(B)。本发明用缺陷腔代替了传统SPR传感器中的金膜(或银膜)，并在缺陷腔中引入吸收介质石墨烯，使得缺陷腔内形成的谐振光信号被逐步吸收形成衰荡，从而在反射谱中获得与谐振波长对应的缺陷尖峰。建立谐振峰波长与待测样本折射率的关系，通过检测谐振峰波长漂移来实现对待测样本折射率的动态监测。 | ||
| 搜索关键词： | 吸收 介质 石墨 表面 缺陷 光子 晶体 折射率 传感器 | ||
【主权项】：
一种含吸收介质石墨烯的表面缺陷腔光子晶体折射率传感器，其特征在于：其结构组成由上至下依次设置为表面缺陷腔、周期性光子晶体和耦合棱镜，在所述周期性光子晶体表面构造表面缺陷腔，所述周期性光子晶体由高折射率材料(A)和低折射率材料(B)周期交替排列而成，表面缺陷腔包括吸收介质石墨烯(C)和低折射率材料(B)，其结构组成为：低折射率材料(B)‑吸收介质石墨烯(C)‑低折射率材料(B)；进行检测时，将待测样本溶液流经该传感器表面，入射光信号从所述耦合棱镜入射到缺陷态周期性光子晶体中，建立谐振峰波长与待测样本折射率的关系，通过检测谐振峰波长漂移来实现对待测样本折射率的动态监测。
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