[发明专利]分析提取近红外小分子痕量气体特征含量的方法和分析仪

摘要

本发明提供了一种分析提取近红外小分子痕量气体特征含量的方法和分析仪，该方法包括：(1)、在中心波长所在的谱线半高全宽内选取长度大于2N的超完备基样本，并从该超完备基样本中选出1组样本长度为2N的样本；(2)、根据所述欲确定的完备基样本的长度计算得到权重截断长度LWT；(3)、在长度为2N的样本数据中搜索得到最大值，并定义其为兴趣样本A的最大值样本数据A(LWT)；(4)、完成样本空间中由一个长度为2N的超完备基样本到2个长度为N的完备基样本的基变换。本发明处理一次性采样的盲源超完备基数据样本，将盲源超完备基数据样本变为盲源完备基数据样本。

主权项

1.分析提取近红外小分子痕量气体特征含量的方法，其特征在于,该方法包括：(1)、在中心波长所在的谱线半高全宽内选取长度大于2N的超完备基样本，并从该超完备基样本中选出1组样本长度为2N的超完备基样本，其中N为欲确定的完备基样本的长度；(2)、根据所述欲确定的完备基样本的长度计算得到权重截断长度LWT；(3)、在长度为2N的超完备基样本数据中搜索得到最大值，并定义其为兴趣样本A的最大值样本数据，该数据表示为A(LWT)；(4)、完成样本空间中由一个长度为2N的超完备基样本到2个长度为N的完备基样本的基变换，并计算得到其中A(1)、A(LWT)、A(N)、B(N)和B(1)样本数据，其中：A(1)、A(N)是兴趣样本A的端值，A(LWT)是兴趣样本A的最大值，B(N)和B(1)是映射样本B的端值；步骤(4)中，当要提取的痕量气体特征成分位于所选待测中心波长左侧时，超完备基样本选在左半样本空间，以A(LWT)为原点，向波长递减方向延伸搜索并逐一计算得到兴趣样本A中的数据A(LWT‑1),……,A(1)，所述递减步长为检测光谱仪的物理分辨率或者说其数据采样步长，物理分辨率可达到0.03nm，以下递增或递减的步长按照此例；再向波长递增的方向延伸搜索并逐一计算得到兴趣样本A中的数据A(LWT+1),……,A(N)，这样获取兴趣样本A＝{A(1),……,A(LWT),……,A(N)}，接着，以样本数据A(1)相邻，向波长递减方向选取N个样本数据，获取映射样本B，B＝{B(N),……,B(1)}，因被分析谱线在最大峰值左右两侧分别是按照波长递增或递减的，所以此时，B(N)是B样本中最大值样本数据，B(1)是B样本中最小值样本数据；同理，当要提取痕量气体特征成分位于所选待测中心波长右侧时，样本选在右半样本空间，以A(LWT)为原点，向波长的递减方向延伸搜索并逐一计算得到兴趣样本A中的数据A(LWT+1),……,A(N)，再向波长递增的方向延伸搜索并逐一计算得到兴趣样本A中的数据A(LWT‑1),……,A(1)，这样获取兴趣样本A＝{A(1),……,A(LWT),……,A(N)}，接着，以样本数据A(1)相邻，向波长递增方向选取N个样本数据，其中，B(N)与A(1)为相邻数据项，获取映射样本B，B＝{B(N),……,B(1)}，同理，B(N)也是是B样本中最大值样本数据，B(1)是B样本中最小值样本数据；以上完成了左半样本空间或右半样本空间一个长度为2N的超完备基样本到2个长度为N的完备基样本的基变换，其中A(1)、A(LWT)、A(N)、B(N)和B(1)是样本空间基变换的5个关键样本数据。