[发明专利]基于SST的测量设备有效

专利信息
申请号: 201610440249.3 申请日: 2016-06-17
公开(公告)号: CN105891648B 公开(公告)日: 2019-02-12
发明(设计)人: 屠幼萍;王劭鹤;徐硕;赵超;王景春;王璁;秦司晨;汪宜航 申请(专利权)人: 华北电力大学
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G05D23/00
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 韩建伟;张永明
地址: 102206 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种基于SST的测量设备。该测量设备包括:设备本体和腔体,设备本体形成有容纳腔,腔体设置在容纳腔内,其中,腔体上开设有第一安装孔;测量装置,测量装置穿过第一安装孔并部分地设置在腔体内,测量装置用于测量腔体内的低温绝缘气体的放电参数,如碰撞电离系数α、吸附参数η及二次电子发射系数γ等;传动装置,传动装置与测量装置连接,传动装置用于控制测量装置的测量位置;二级冷头和加热片,二级冷头安装在腔体上,并与制冷机连接,加热片贴在腔体上,二级冷头和加热片用于控制腔体内的绝缘气体的温度。本发明解决了相关技术中无法对低温气体的放电参数进行测量的技术问题。
搜索关键词: 用于 sst 测量 设备
【主权项】:
1.一种基于SST的测量设备,其特征在于,包括:设备本体和腔体,所述设备本体形成有容纳腔,所述腔体设置在所述容纳腔内,其中,所述腔体上开设有第一安装孔;测量装置,所述测量装置穿过所述第一安装孔并部分地设置在所述腔体内,所述测量装置用于测量所述腔体内的绝缘气体的放电参数,其中,所述放电参数包括以下至少之一:碰撞电离系数、吸附参数以及二次电子发射系数;传动装置,所述传动装置与所述测量装置连接,所述传动装置用于控制所述测量装置的测量位置;二级冷头和加热片,所述二级冷头安装在所述腔体上,并与制冷机连接,所述加热片贴在所述腔体上,所述二级冷头和所述加热片用于控制所述腔体内的绝缘气体的温度;其中,所述设备本体和所述腔体上分别开设有抽气孔,所述测量设备还包括与所述设备本体的抽气孔连接的第一导气管和与所述腔体的抽气孔连接的第二导气管,其中,所述设备本体通过所述第一导气管与抽气装置连接,所述腔体通过所述第二导气管与抽气装置连接。
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