[发明专利]基于AO*算法的序贯测试动态调整方法

摘要

本发明公开了一种基于AO*算法的序贯测试动态调整方法，首先采用AO*算法获取电子系统的最优故障诊断树，然后监测测试的测试代价和故障的概率动态，当测试的测试代价增加时，对选择该测点的故障节点进行重新评估，当测试的测试代价减小时，对未选择该测点的故障节点进行重新评估，调整最优故障诊断树；当故障的概率变化时，对最优故障诊断树进行调整。本发明根据电子系统中测试代价变化和故障概率变化，对当前的最优故障诊断树进行相应调整，快速获取新的最优故障诊断树，实现序贯测试的适应性动态调整。

主权项

1.一种基于AO*算法的序贯测试动态调整方法，其特征在于包括以下步骤：S1：采用AO*算法获取电子系统的最优故障诊断树；S2：监测测试的测试代价和故障概率动态，如果某个测试tj的测试代价cj发生变化，进入步骤S3，如果某个故障的概率发生变化，进入步骤S4；S3：如果测试tj的测试代价cj增加，记当前最优故障诊断树中最优测试为tj的故障节点的集合为A(tj)，遍历故障节点集合A(tj)中的每个故障节点，分别计算测试tj与该故障节点的其他可用测试的评估值，并得到评估值最小的测试tj*，如果tj*＝tj，不作任何操作，否则设置该故障节点的最优测试为tj*，重新采用AO*算法求解其对应的最优故障诊断子树；返回步骤S2；如果测试tj的测试代价cj减小，按层次优先遍历当前最优故障诊断树中的每个故障节点，如果该故障节点所选择的最优测试为tj，则不作任何操作，否则将该故障节点加入集合B(tj)，集合B(tj)中各故障节点按照层次序号从低到高排列；按顺序遍历集合B(tj)中的每个故障节点，计算测试tj对于该故障节点的评估值h′j，如果h′j≥hbest，hbest表示当前最优故障诊断树中该故障节点的最小评估值，不作任何操作，否则设置该故障节点的最优测试为tj，重新采用AO*算法求解其对应的最优故障诊断子树，将该故障节点的后代节点从集合B(tj)中删除；当集合B(tj)中不存在未遍历故障节点，返回步骤S2；S4：当某个故障si故障概率变化，对故障概率改变前后的所有故障进行排序，记故障概率改变前故障si的序号为k1，故障概率改变后故障si的序号为k2；如果k2＝k1，那么不作任何操作；如果k2≠k1，选择故障si故障概率改变前序号为k2的故障si′，然后从当前的最优故障诊断树中搜索得到同时包含故障si和si′且层次序号最大的故障节点，重新采用AO*算法求解其对应的最优故障诊断子树；返回步骤S2。