[发明专利]一种基于包络平方谱分析的调制识别方法及装置有效
申请号: | 201610431110.2 | 申请日: | 2016-06-16 |
公开(公告)号: | CN106059969B | 公开(公告)日: | 2019-12-03 |
发明(设计)人: | 李敏;梁莉莉;魏冬 | 申请(专利权)人: | 中国科学院信息工程研究所 |
主分类号: | H04L25/03 | 分类号: | H04L25/03;H04L27/00;H04L27/26 |
代理公司: | 11002 北京路浩知识产权代理有限公司 | 代理人: | 李相雨<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
地址: | 100093 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于包络平方谱分析的调制识别方法及装置。该方法包括:将接收到的待识别信号进行过采样、归一化和零均值化,以获得预处理信号;获取所述预处理信号的包络平方谱以及识别特征;比较所述识别特征与判决门限,以识别出所述待识别信号的调制方式。本发明提供的装置基于上文所述的调制识别方法实现。本发明可以提高识别时的稳定性,具有较好的抗干扰能力。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 包络 平方 谱分析 调制 识别 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种基于包络平方谱分析的调制识别方法,其特征在于,包括:/n将接收到的待识别信号进行过采样、归一化和零均值化,以获得预处理信号;/n获取所述预处理信号的包络平方谱以及识别特征;/n比较所述识别特征与判决门限,以识别出所述待识别信号的调制方式;/n其中,所述待识别信号采用复基带PSK和QAM信号,相应的,基于所述复基带PSK和QAM信号,通过获取所述预处理信号的包络平方谱,以峰谱比作为所述识别特征,并基于所述复基带PSK和QAM信号的特征理论值,设定所述判决门限;/n其中,所述获取所述预处理信号的包络平方谱以及识别特征的步骤包括:/n计算所述预处理信号的包络的平方函数,然后对该所述包络的平方函数进行零均值化与离散傅立叶变化得到包络平方谱幅度;/n所述包络平方谱幅度采用以下公式表示:/n /n式中,F{·}表示对·进行离散傅立叶变换,yp(n)表示所述预处理信号;/n所述获取所述预处理信号的包络平方谱以及识别特征的步骤中,所述识别特征为峰谱比,通过以下步骤获取:/n对所述包络平方谱进行零均值化处理;/n对零均值化处理的包络平方谱进行离散傅立叶变化得到包络平方谱幅度;/n获取所述包络平方谱幅度的最大值及其对应频率ωm;/n计算[0,ωm)频段范围内的谱质心Psc,并计算所述最大值与谱质心之比即峰谱比 /n
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