[发明专利]基于修正因子的最小方差谱估计方法在审
申请号: | 201610424037.6 | 申请日: | 2016-06-13 |
公开(公告)号: | CN106125056A | 公开(公告)日: | 2016-11-16 |
发明(设计)人: | 陈伯孝;余方伟;杨明磊 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | G01S7/41 | 分类号: | G01S7/41 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 王品华;朱红星 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: |
本发明公开了一种基于修正因子的最小方差谱估计方法,主要解决现有技术空间谱主瓣较宽,旁瓣较高的缺点。其实现过程是:1)提取均匀线阵的接收数据x(t);2)计算x(t)的协方差矩阵 |
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搜索关键词: | 基于 修正 因子 最小 方差 估计 方法 | ||
【主权项】:
一种基于修正因子的最小方差谱估计方法,包括以下步骤:1)根据均匀线阵天线的阵列结构,获得整个均匀阵列的接收数据x(t);2)计算接收数据x(t)的协方差矩阵
并对其求逆,得到接收数据的协方差逆矩阵
3)构造N×N阶对角矩阵:
其中,ρ为常数,ρ∈[10‑8,10‑4];e‑jκd(i‑1)ρ为对角矩阵Y的第i个对角线元素,i=1,2…N,N表示阵元数,κ为波数,d为阵元间距,j为虚数单位,e为自然常数;4)根据协方差逆矩阵
和对角矩阵Y,构造修正因子β:4a)根据协方差逆矩阵
和对角矩阵Y,计算三个数值不同的扫描参数ξ1、ξ2和ξ3:![]()
其中:θ为扫描角度,a(θ)为阵列导向矢量,a(θ)=[1,ejκdsinθ,…,ejκ(N‑1)dsinθ]T,上标T表示转置,上标H表示共轭转置;4b)根据4a)中的第一扫描参数ξ1,得到Capon空间谱函数:
4c)根据4a)中的第一扫描参数ξ1、第二扫描参数ξ2和第三扫描参数ξ3,计算出Capon空间谱函数Pcapon(θ)的修正因子:
其中上标*表示共轭;5)根据4b)中的Capon空间谱函数Pcapon(θ)以及4c)中的修正因子β,得到空间谱函数:Pp(θ)=βPcapon(θ);6)根据空间谱函数Pp(θ),对波达方向进行最大似然估计,得到波达方向的估计值![]()
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