[发明专利]基于散斑时域相关的大尺寸光学毛坯三维测量方法在审
| 申请号： | 201610420870.3 | 申请日： | 2016-06-14 |
| 公开（公告）号： | CN106091987A | 公开（公告）日： | 2016-11-09 |
| 发明（设计）人： | 李超;周常河;王少卿;范鑫;杨博荃 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人： | 张泽纯;张宁展 |
| 地址： | 201800 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种大尺寸光学毛坯快速三维测量的方法。本发明主要运用散斑时域相关技术、结构光双目三维测量技术对大尺寸光学毛坯进行测量。相对于一般的激光照明，时域散斑的特点是受到粗糙光学毛坯表面的散射光影响小，通过运用N幅散斑的时域相关技术，可以成功对粗糙光学毛坯表面进行测量。本发明技术方案解决了大尺寸光学毛坯测量测量面积大、耗时长以及毛坯表面散射强等问题，运用双目三维测量技术，投影能够实现对大尺寸光学毛坯的测量的时域散斑到光学毛坯表面。利用双目相机同步采集N组图案进行相关运算，进行三维重构，从而实现大尺寸、低成本、快速的光学毛坯三维测量。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 时域 相关 尺寸 光学 毛坯 三维 测量方法 | ||
【主权项】：
一种基于散斑时域相关的大尺寸光学毛坯三维测量装置，其特征在于，包括：一个图案发生装置、位于该图案发生装置左右两侧的工业相机、以及一个数据处理系统，该数据处理系统分别与所述的图案发生装置、工业相机相连。
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