[发明专利]基于二次偏振的高精度绝对距离测量装置及其测量方法

摘要

本发明公开了一种基于二次偏振调制的高精度绝对距离测量装置，由光路部分和电路部分构成。1550nm激光器产生的激光光束自环形器1口进入，2口出射到偏振分束器起偏，经过相位调制器调制后，往返两次经过光纤准直器、1/4波片，以及一次经过反射镜反射后经过相位调制器进行二次调制；光信号在偏振分束器上偏振干涉，偏振分束器输出光强信号；微控制器控制高频微波源的调制频率输出，微控制器采集A/D转换器的数字数据；每改变一次高频微波源的调制频率输出，微控制器均采集一次A/D转换器的数字数据，从而得到输出光强信号与调制频率的扫频曲线，利用扫频曲线上两个相邻的信号强度极小值点对应的调制频率极值点从而得到被测距离。

主权项

一种基于二次偏振调制的高精度绝对距离测量装置，其特征在于，由光路部分和电路部分构成，其中：光路部分包括依次布置的一个1550nm波长激光光源(1)、一个环形器(2)、一个偏振分束器(3)、一个偏振控制器(4)、一个相位调制器(5)、一个光纤准直器(6)、一个1/4波片(7)和一个反射镜系统(12)；所述电路部分包括一个光电探测器(8)、一个A/D转换器(10)、一个高频微波源(9)和一个微控制器(11)；所述环形器(2)包括有1口、2口和3口；所述1550nm波长激光光源(1)与所述环形器(2)的1口相连，所述环形器(2)的2口连接至所述偏振分束器(3)，所述光电探测器(8)与所述环形器(2)3口相连。